[实用新型]应用于探针基座的绝缘件及其探针基座有效
| 申请号： | 201820540891.3 | 申请日： | 2018-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN208314033U | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 蔡伯晨;陈威助;吕彦辉;谢健堉;侯志辉;陈彦均;潘亭蓁;林彦维 | 申请（专利权）人： | 中国探针股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;李林 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 绝缘件 探针基座 探针安装孔 针孔 复合式组件 第二表面 第一表面 基座本体 通孔 应用 本实用新型 片状结构体 复数通孔 探针检测 信号反射 共平面 检测区 探针 阻抗 匹配 贯穿 检测 | ||
1.一种应用于探针基座的绝缘件，具有一探针安装孔，供以穿设探针，其特征在于：
该绝缘件为片状结构体，且具有复数通孔、一第一表面及一第二表面，该探针安装孔位于该绝缘件的中心，该第一表面及该第二表面相对设置，且该探针安装孔及该复数通孔分别由该第一表面贯穿至该第二表面，且该第一表面及该第二表面未设有该探针安装孔及该复数通孔的区域是共平面。
2.根据权利要求1所述的应用于探针基座的绝缘件，其特征在于，该第一表面未具有该探针安装孔的区域面积为A，该复数通孔的总面积介于0.6A～0.8A。
3.根据权利要求1或2所述的应用于探针基座的绝缘件，其特征在于，该复数通孔围绕该探针安装孔排列设置。
4.根据权利要求3所述的应用于探针基座的绝缘件，其特征在于，各该通孔的宽度由该第一表面及该第二表面朝中间渐减。
5.一种探针基座，供以检测半导体元件，其特征是包含：
一基座本体，具有至少一检测区，供以放置半导体元件；
至少一复合式组件，设于该检测区，且具有至少一针孔，供以设置一探针；及，
至少一绝缘件，供以设置于该针孔内，该绝缘件为片状结构体，且具有一探针安装孔、复数通孔、一第一表面及一第二表面，该探针安装孔位于该绝缘件的中心，该第一表面及该第二表面相对设置，且该探针安装孔及该复数通孔分别由该第一表面贯穿至该第二表面，且该第一表面及该第二表面未设有该探针安装孔及该复数通孔的区域是共平面。
6.根据权利要求5所述的探针基座，其特征在于，该复合式组件包含至少一金属模件及至少一非金属模件，且该金属模件及该非金属模件呈部分重叠的拼组状态。
7.根据权利要求5或6所述的探针基座，其特征在于，该第一表面未具有该探针安装孔的区域面积为A，该复数通孔的总面积和介于0.6A～0.8A。
8.根据权利要求7所述的探针基座，其特征在于，该复数通孔围绕该探针安装孔排列设置。
9.根据权利要求6所述的探针基座，其特征在于，该金属模件具有一第一组装部，该非金属模件具有一第二组装部，且该第一组装部及该第二组装部彼此为凹凸对应结构，在拼组时使该第一组装部及该第二组装部能够相互组接。
10.根据权利要求7所述的探针基座，其特征在于，该复合式组件供与半导体元件组接的表面具有一指向部。
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