[实用新型]应用于探针基座的绝缘件及其探针基座

说明书

本实用新型提供一种应用于探针基座的绝缘件及其探针基座，该绝缘件具有一探针安装孔，其特征在于绝缘件为片状结构体，且具有复数通孔，探针安装孔位于绝缘件的中心，探针安装孔及通孔分别由绝缘件的第一表面贯穿至第二表面，第一表面及第二表面未设有探针安装孔及通孔的区域为共平面。而探针基座具有一基座本体及至少一复合式组件，基座本体具有至少一检测区，复合式组件设于检测区内，且具有至少一针孔以设置一探针，绝缘件则供以设于针孔内。如此可于应用时降低因阻抗不匹配造成的信号反射损失，提升探针检测的效能。

技术领域

本实用新型与电性检测装置领域相关，尤其是一种可有效降低介电系数以提升检测频宽的应用于探针基座的绝缘件及其探针基座。

背景技术

现今，各类电子产品于出厂前，须检测其内各种精密微型电子元件的电性状态，此为电子产品合格率测试的重要一环。而为利于检测前述的各类电性状态，探针则为目前相当常见的测试应用产品。

为可快速检测电子元件上各电连接点的状态，系衍生有设置多个探针的检测座或接头等机构。于检测时使探针一端接触电连接点形成导通，另一端则与电路板等检测机构电性连接，以经由检测机构得知各电连接点的信号传递等电性状态。

目前用以检测电连接点的检测座或接头，为可让探针与检测座体或接头座体达到防止探针短路与干扰等现象，系需通过绝缘物件来隔绝两者。然，当应用于高频宽信号检测时，检测座或接头则须有较佳遮蔽传输杂讯的效能，但以目前的检测座与接头结构，无法于绝缘及阻抗匹配之间取得较佳的平衡设计，故在如高频宽信号等测试种类下，仍无法具有高准确性。

有鉴于此，如何提升现今电性检测装置的效能，实为当前亟需解决的问题。本实用新型人集结多年相关行业的经验，系于此提出一种应用于探针基座的绝缘件及其探针基座。

实用新型内容

本实用新型的一目的，旨在提供一种应用于探针基座的绝缘件及其探针基座，其可有效降低检测过程中因阻抗不匹配造成的信号反射损失，以大幅提升电性检测的准确度。

为达上述目的，本实用新型提出一种应用于探针基座的绝缘件，具有一探针安装孔，供以穿设探针，其特征在于：该绝缘件为片状结构体，且具有复数通孔、一第一表面及一第二表面，该探针安装孔位于该绝缘件的中心，该第一表面及该第二表面相对设置，且该探针安装孔及该复数通孔分别由该第一表面贯穿至该第二表面，且该第一表面及该第二表面未设有该探针安装孔及该复数通孔的区域是共平面。如此，可于探针电性传输过程中，有效降低降低对应该绝缘件空间内的介电系数，而可降低因阻抗不匹配造成的信号反射损失，以具有更佳的检测效能。

更进一步地，为使该绝缘件兼具刚性与较佳的低介电系数表现，于另一实施例中系揭示该第一表面未具有该探针安装孔的区域面积为A，该复数通孔的总面积和介于0.6A～0.8A。

此外，于再一实施例中，该复数通孔围绕该探针安装孔为排列设置，以使对应该绝缘件空间内的空气量得以均匀分配，有效将整个空间区域中的介电系数降低。

于一实施例中，则揭示各该通孔的宽度由该第一表面及该第二表面朝中间渐减，以具有较佳的介电系数降低功效。

本实用新型也揭示一种探针基座，供以检测半导体元件，包含：一基座本体，具有至少一检测区，供以放置半导体元件；至少一复合式组件，设于该检测区，且具有至少一针孔，供以设置一探针；及至少一绝缘件，供以设置于该针孔内，该绝缘件为片状结构体，且具有一探针安装孔、复数通孔、一第一表面及一第二表面，该探针安装孔位于该绝缘件的中心，该第一表面及该第二表面相对设置，且该探针安装孔及该复数通孔分别由该第一表面贯穿至该第二表面，且该第一表面及该第二表面未设有该探针安装孔及该复数通孔的区域是共平面。

其中，于另一实施例中揭示该复合式组件包含至少一金属模件及至少一非金属模件，且该金属模件及该非金属模件呈部分重叠的拼组状态。如此可有效降低该探针基座的制造成本，同时又可因应高频测试的需求。