[实用新型]一种克尔灵敏度测量装置有效
申请号: | 201820674549.2 | 申请日: | 2018-04-24 |
公开(公告)号: | CN208805461U | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | 张向平;方晓华;赵永建 | 申请(专利权)人: | 金华职业技术学院 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 321017 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非球面镜 物镜 光电探测器 分束器 波片 孔径光阑 灵敏度测量装置 激光器 检偏器 偏振器 棱镜 目镜 本实用新型 材料磁性 测量领域 磁化分量 反射光路 入射光路 同一直线 电流表 示波器 样品台 磁铁 光路 电源 计算机 检验 | ||
1.一种克尔灵敏度测量装置,主要包括激光器、非球面镜I、孔径光阑、偏振器、非球面镜II、分束器、1/2波片、1/4波片、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I、光电探测器II、物镜台、物镜、非球面镜III、样品、样品台、磁铁、电流表、电源、示波器、计算机、检偏器、目镜,所述激光器的波长在400纳米到800纳米范围可调,xyz为空间直角坐标系,zx为水平面,xy平面与水平面垂直,所述激光器、非球面镜I、孔径光阑、偏振器、非球面镜II、分束器、物镜及非球面镜III组成入射光路,所述样品、非球面镜III、物镜、分束器、1/2波片、1/4波片、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I及光电探测器II组成反射光路,所述物镜、分束器、检偏器及目镜位于同一直线上且组成检验光路,激光器发出的光依次经过非球面镜I、孔径光阑、偏振器、非球面镜II后被分束器偏向,并依次经过物镜、非球面镜III后射到样品表面,被样品反射的反射光依次经过非球面镜III、物镜后被分束器偏向,并依次经过1/2波片、1/4波片后在沃拉斯顿棱镜中分成两束分别为S偏振和P偏振的正交光,S偏振光进入光电探测器I,P偏振光进入光电探测器II,光电探测器I中探测到的光强为IS,光电探测器II中探测到的光强为IP,磁铁、电流表、电源、示波器、计算机之间电缆连接,光电探测器I与计算机之间电缆连接,光电探测器II与计算机之间电缆连接,磁铁产生的磁场沿x轴方向,所述克尔灵敏度包括纯极向克尔灵敏度、竖直方向的纵向克尔灵敏度和横向克尔灵敏度,其特征是:所述孔径光阑为四种孔径模式的组合,包括孔径模式I、孔径模式II、孔径模式III、孔径模式IV,所述四种孔径模式中的透光区域的大小及位置能够进行微调,通过快门控制来达到不同的孔径模式,以能够控制入射到样品表面的光束的入射角,通过调整偏振器、非球面镜II、分束器II,能够使得孔径光阑所处的平面与物镜的背聚焦平面共轭,孔径光阑的半径为20mm,其中心在xy平面内的坐标为(0,0),孔径模式I的开孔为正方形,所述正方形的中心位置在(0mm,0mm),边长在1mm至10mm可调;孔径模式II的开孔为长方形,所述长方形的中心位置在(0mm,-14mm),x方向边长在1mm至3mm范围可调,y方向边长在2mm至5mm可调;孔径模式III的开孔为长方形,所述长方形的中心位置在(14mm,0mm),y方向边长在1mm至3mm范围可调,x方向边长在2mm至5mm可调;孔径模式IV的开孔为长方形,所述长方形的中心位置在(0mm,10mm),y方向边长在1mm至3mm范围可调,x方向边长在2mm至5mm可调,通过调整检偏器方向及位置,能够在目镜中观测到物镜的背聚焦平面上出现的锥光干涉图。
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