[实用新型]一种克尔灵敏度测量装置

说明书

本实用新型涉及材料磁性测量领域，一种克尔灵敏度测量装置，包括激光器、非球面镜I、孔径光阑、偏振器、非球面镜II、分束器、1/2波片、1/4波片、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I、光电探测器II、物镜台、物镜、非球面镜III、样品、样品台、磁铁、电流表、电源、示波器、计算机、检偏器、目镜，所述激光器、非球面镜I、孔径光阑、偏振器、非球面镜II、分束器、物镜及非球面镜III组成入射光路，所述样品、非球面镜III、物镜、分束器、1/2波片、1/4波片、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I及光电探测器II组成反射光路，所述物镜、分束器、检偏器及目镜位于同一直线上且组成检验光路，孔径光阑为四种孔径模式，能够同时并且定量地确定样品的两个面内磁化分量。

技术领域

本实用新型涉及材料磁性测量领域，尤其是一种能够定量地确定样品的面内磁化分量的一种克尔灵敏度测量装置。

背景技术

磁光克尔效应测量装置是材料表面磁性研究中的一种重要手段，其工作原理是基于由光与磁化介质间相互作用而引起的磁光克尔效应，其不仅能够进行单原子层厚度材料的磁性检测，而且可实现非接触式测量，在磁性超薄膜的磁有序、磁各向异性、层间耦合和磁性超薄膜的相变行为等方面的研究中都有重要应用。克尔显微镜是一种常用的装置，其工作原理为：平面偏振光与非透明的磁性媒介表面相互作用后，被反射的光的偏振平面产生了顺时针或逆时针的旋转，其旋转方向与媒介的磁化方向有关，通常反射光中的椭圆偏振是叠加的，反射光经过反射光路中的检偏器后，克尔旋转转变为磁畴对比度，从而得到样品表面不同区域的磁畴的磁化特征。现有技术缺陷一：现有技术通常使用调节非平面镜及反射镜的方法来改变入射光的方向，涉及的光学元件较多，操作复杂；现有技术缺陷二：由于在样品磁化反转的过程中，磁化的方向并不是严格沿着磁场方向，这种情况下，克尔信号是不同种克尔效应的混合，较难分离不同种克尔效应的贡献。现有技术中，通常在不同条件下测量得到多条磁滞回线，在这个过程中，需要改变光路即光学元件位置，或者是改变外磁场，另外，装置在每一次改变后都需要校准，所述一种克尔灵敏度测量装置能解决问题。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型采用具有多种孔径模式的孔径光阑来调节入射到样品的入射光方向以进行不同克尔灵敏度的测量。另外，本实用新型装置通过对光电探测器得到的不同种克尔效应的混合信号处理，能够在不改变装置结构的基础上定量地确定样品的两个面内磁化分量。

本实用新型所采用的技术方案是：