[实用新型]测试系统及无线通信模块

权利要求书

1.一种测试系统，其特征在于，包括：

测试设备，所述测试设备被配置为测试无线通信模块，所述无线通信模块包括无线芯片、天线，以及用于连接所述无线芯片和所述天线的连接走线；

短路结构，所述短路结构被配置为将所述连接走线上的短路点短路；

探测结构，所述探测结构被配置为一端与测试点接触，另一端与所述测试设备电连接，所述测试点为所述连接走线上的短路点与所述无线芯片之间的点，所述测试点和所述短路点在所述连接走线上的距离是基于四分之一波长阻抗变换器理论确定的预设距离。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试点和所述短路点在所述连接走线上的距离d满足：

其中，λ₀为所述无线芯片发出的信号在真空中传输的波长，λ₁为无线芯片发出的信号在所述连接走线中传输的波长；

所述λ₀满足第一波长计算公式，所述第一波长计算公式为：

其中，c为所述无线芯片发出的信号在真空中传输的速度，f为所述无线芯片发出的信号在真空中传输的频率；

所述λ₁满足第二波长计算公式，所述第二波长计算公式为：

其中，ε_r为用于承载所述连接走线的介质的相对介电常数。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述无线芯片、所述天线和所述连接走线共面设置，所述测试系统还包括：移动组件，所述移动组件设置在所述测试设备上，所述移动组件与所述探测结构固定连接，所述移动组件被配置为带动所述探测结构沿垂直所述连接走线所在设置面的方向上移动。

4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述测试设备还包括：距离调节组件，所述短路结构与所述探测结构通过所述距离调节组件活动连接，所述距离调节组件被配置调节所述短路结构与所述探测结构之间的距离。

5.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述测试设备还包括：距离调节组件，所述短路结构与所述移动组件通过所述距离调节组件活动连接，所述距离调节组件被配置调节所述短路结构与所述探测结构之间的距离；

所述移动组件还被配置为带动所述短路结构沿垂直所述设置面的方向上移动。

6.根据权利要求4或5所述的测试系统，其特征在于，所述测试设备还包括：测距组件，所述测距组件设置在所述测试设备上，所述测距组件被配置为测量所述短路结构与所述探测结构之间的距离。

7.根据权利要求4或5所述的测试系统，其特征在于，所述连接走线上设置有至少一组标识结构，所述无线芯片用于发出至少一种频率的信号，所述至少一组标识结构与所述至少一种频率的信号一一对应，每组所述标识结构包括：短路点标识结构和测试点标识结构。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述至少一组标识结构共用同一短路点标识结构。

9.根据权利要求1至5任一所述的测试系统，其特征在于，所述无线通信模块还包括：印刷电路板PCB和接地走线，所述无线芯片、所述天线、所述连接走线和所述接地走线均集成在所述PCB上；

所述短路结构为导电结构，所述短路结构的一端具有两个第一接触针，所述两个第一接触针在工作时，分别与所述连接走线上的短路点以及所述接地走线抵接；

所述探测结构的一端具有两个第二接触针，所述两个第二接触针在工作时，分别与所述连接走线上的测试点以及所述接地走线抵接。

10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，

所述PCB上还设置有多个接地点，所述多个接地点均与所述接地走线连接，所述多个接地点与所述连接走线上的短路点和测试点一一对应，任一所述接地点与对应的短路点之间的距离等于所述两个第一接触针之间的距离，任一所述接地点与对应的测试点之间的距离等于所述两个第二接触针之间的距离。