[实用新型]测试系统及无线通信模块

说明书

本实用新型公开了一种测试系统及无线通信模块，属于通信技术领域该测试系统包括：测试设备，测试设备被配置为测试无线通信模块，无线通信模块包括无线芯片、天线，以及用于连接无线芯片和天线的连接走线；短路结构，短路结构被配置为将连接走线上的短路点短路；探测结构，探测结构被配置为一端与测试点接触，另一端与测试设备电连接，测试点为连接走线上的短路点与无线芯片之间的点，测试点和短路点在连接走线上的距离是基于四分之一波长阻抗变换器理论确定的预设距离。本实用新型通过短路结构和测试结构，使得无线芯片发出的信号全部传输至测试设备中，无需在无线通信模块上设置测试基座，有效的降低了无线通信模块的制造成本。

技术领域

本实用新型涉及通信技术领域，特别涉及一种测试系统及无线通信模块。

背景技术

随着通信技术的发展，越来越多的终端或服务器中可以设置有无线通信模块，通过无线通信模块能够实现终端与终端之间的无线通信，或者实现终端与服务器之间的无线通信等。

通常无线通信模块可以包括：无线芯片、天线和印刷电路板(英文：PrintedCircuit Board；简称：PCB)，该无线芯片与天线通常可以集成在一块PCB上。为了保证无线通信模块能够正常的工作，在无线通信模块出厂前，需要对无线通信模块进行测试。通常PCB上还设置有测试基座，在对无线通信模块进行测试时，需要将测试设备中的测试针插入该测试基座中，使得无线芯片发出的信号全部传输到测试设备中，而不会传输至天线中，通过测试设备能够实现对无线通信模块的测试。

目前的无线通信模块需要设置额外的测试基座，以实现对无线通信模块的测试，导致该无线通信模块的制造成本较高。

实用新型内容

本申请提供了一种测试系统及无线通信模块，可以解决现有的无线通信模块的制造成本较高的问题。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种测试系统，包括：

测试设备，所述测试设备被配置为测试无线通信模块，所述无线通信模块包括无线芯片、天线，以及用于连接所述无线芯片和所述天线的连接走线；

短路结构，所述短路结构被配置为将所述连接走线上的短路点短路；

探测结构，所述探测结构被配置为一端与测试点接触，另一端与所述测试设备电连接，所述测试点为所述连接走线上的短路点与所述无线芯片之间的点，所述测试点和所述短路点在所述连接走线上的距离是基于四分之一波长阻抗变换器理论确定的预设距离。

可选的，所述测试点和所述短路点在所述连接走线上的距离d满足：

其中，λ₀为所述无线芯片发出的信号在真空中传输的波长，λ₁为无线芯片发出的信号在所述连接走线中传输的波长；

所述λ₀满足第一波长计算公式，所述第一波长计算公式为：

其中，c为所述无线芯片发出的信号在真空中传输的速度，f为所述无线芯片发出的信号在真空中传输的频率；

所述λ₁满足第二波长计算公式，所述第二波长计算公式为：

其中，ε_r为用于承载所述连接走线的介质的相对介电常数。

可选的，所述无线芯片、所述天线和所述连接走线共面设置，所述测试系统还包括：移动组件，所述移动组件设置在所述测试设备上，所述移动组件与所述探测结构固定连接，所述移动组件被配置为带动所述探测结构沿垂直所述连接走线所在设置面的方向上移动。