[实用新型]自动光学检查系统

权利要求书

1.一种自动光学检查系统，用于检查至少一电路基板上是否存在一不良品标记，其特征在于，所述电路基板具有一电路，所述自动光学检查系统包括：

一第一真空吸座，所述第一真空吸座具有至少一第一真空吸嘴，所述第一真空吸嘴用于提供一第一真空吸力；

一影像撷取设备，所述影像撷取设备具有一取像头与一取像环境，所述取像头撷取所述取像环境内的影像；

一识别模块，所述识别模块用于对所述取像头所撷取的影像进行识别；

一插破设备，所述插破设备具有一刀具与一插破环境，所述刀具可在所述插破环境内执行一插破作业；

一输送工作台，所述输送工作台可在所述取像环境与所述插破环境之间行进；以及

一控制单元，协同所述第一真空吸座、所述影像撷取设备、所述识别模块、所述插破设备及所述输送工作台执行以下动作：

令所述第一真空吸嘴接近所述电路基板，使所述第一真空吸嘴对所述电路基板提供所述第一真空吸力而吸取所述电路基板；

令所述第一真空吸嘴带动所述电路基板至所述输送工作台，而后，令所述第一真空吸嘴停止对所述电路基板提供所述第一真空吸力；

令所述输送工作台将所述电路基板输送至所述取像环境，而后，令所述取像头撷取所述电路基板的影像，接着，令所述识别模块根据所述取像头所撷取的影像，识别所述电路基板上是否存在所述不良品标记；以及

当所述识别模块识别所述电路基板上存在所述不良品标记时，令所述输送工作台将所述电路基板输送至所述插破环境，而后，令所述刀具执行所述插破作业而插破所述电路基板的所述电路，以破坏所述电路基板的电路特性，而防止存在所述不良品标记的所述电路基板被误用。

2.如权利要求1所述的自动光学检查系统，其特征在于，所述至少一电路基板为复数迭设的电路基板，且所述自动光学检查系统还包括一料架，所述料架具有一载台与一升降结构，所述载台用于承载所述复数电路基板，所述升降结构用于抬升所述载台，以使所述载台上的复数电路基板的最高者能够到达所述第一真空吸嘴用于吸取的位置，俾便所述第一真空吸嘴吸取所述复数电路基板中的最高者，所述升降结构还用于降下所述载台，以在所述载台上方形成空间而供将所述复数电路基板置放到所述载台。

3.如权利要求1所述的自动光学检查系统，其特征在于，所述第一真空吸座还具有一第一真空吸座X轴导引轨道与一第一真空吸座Z轴导引轨道，所述第一真空吸座X轴导引轨道用于引导所述第一真空吸嘴在一X轴向上移动，所述第一真空吸座Z轴导引轨道用于引导所述第一真空吸嘴在一Z轴向上移动，使所述第一真空吸嘴用于带动所述电路基板至所述输送工作台。

4.如权利要求3所述的自动光学检查系统，其特征在于，还包括：一第二真空吸座，所述第二真空吸座具有至少一第二真空吸嘴，所述第二真空吸嘴用于提供一第二真空吸力；所述控制单元还用于执行下列动作：当所述刀具插破所述电路基板的所述电路后，令所述第二真空吸嘴接近所述输送工作台，使所述第二真空吸嘴对所述电路基板提供所述第二真空吸力而吸取所述电路基板，而后，令所述第二真空吸嘴带动所述电路基板离开所述输送工作台。

5.如权利要求4所述的自动光学检查系统，其特征在于，所述第二真空吸座还具有一第二真空吸座X轴导引轨道与一第二真空吸座Z轴导引轨道，所述第二真空吸座X轴导引轨道与所述第二真空吸座Z轴导引轨道分别引导所述第二真空吸嘴在一X轴向与一Z轴向上移动，使所述第二真空吸嘴用于带动所述电路基板离开所述输送工作台。

6.如权利要求5所述的自动光学检查系统，其特征在于，所述第一真空吸座X轴导引轨道与所述第二真空吸座X轴导引轨道成形为一体。

7.如权利要求1所述的自动光学检查系统，其特征在于，还包括：一输送工作台Y轴导引轨道，所述输送工作台Y轴导引轨道引导所述输送工作台15在一Y轴向上移动，使所述输送工作台用于在所述取像环境与所述插破环境之间行进，以让所述取像头能在所述取像环境内对准所述电路基板，也让所述刀具能在所述插破环境内对准所述电路基板的所述电路。