[实用新型]自动光学检查系统

说明书

本实用新型提供一种自动光学检查系统，包括：影像撷取设备、插破设备、识别模块等，可透过影像撷取设备与识别模块，来识别具有电路的电路基板上是否存在不良品标记，若检查发现电路基板上存在有不良品标记时，则透过刀具将电路基板的电路插破，以破坏电路基板的电路特性，而可有效防止存在不良品标记的电路基板被误用。

技术领域

本实用新型涉及一种自动光学检查系统，更详而言之，指一种可破坏不良现电路基板电路特性的自动光学检查系统。

背景技术

随着科技的发展，电路基板的体积愈来愈小，但其中的电路却愈来愈复杂，使得电路基板能够提供更多的功能，但却也造成电路基板上的电路容易存在缺陷。若在有缺陷的电路基板作加工或电子零件的置放，后续的补救处理将会造成成本的浪费，尤其是对于昂贵的电子零件，则损失更是难以估计，甚至对于产品的良率也会造成不利的影响。

因而，遂有自动光学检查(Automatic Optical Inspection；AOI)技术的发展，自动光学检查是一种非接触式检查，主要利用取像头取得电路基板的表面影像，藉此透过影像辨识技术来判断电路基板表面的电路是否存在缺陷，当发现电路基板的电路存在缺陷时，在有缺陷的电路基板(即不良电路基板)上加上不良品标记，是以，后续就可以毋需透过大量的人力查找出不良电路基板。然，即便如此不良电路基板上的不良品标记仍有可能被忽视，使得不良电路基板被误用于产品中而造成损失。

因此，如何提供一种自动光学检查系统，以避免不良电路基板被误用，而克服现有技术中存在的种种问题，即为本案待解决的技术课题。

实用新型内容

为达到上述目的以及其他目的，本实用新型提供一种自动光学检查系统，用于实现能够检查一电路基板上是否存在至少一不良品标记的硬件架构系统，其中，所述电路基板具有一电路，所述自动光学检查系统包括：一第一真空吸座，所述第一真空吸座具有至少一第一真空吸嘴，所述第一真空吸嘴可提供一第一真空吸力；一影像撷取设备，所述影像撷取设备具有一取像头与一取像环境，所述取像头撷取所述取像环境内的影像；一识别模块，所述识别模块用于对所述取像头所撷取的影像进行识别；一插破设备，所述插破设备具有一刀具与一插破环境，所述刀具可在所述插破环境内执行一插破作业；一输送工作台，所述输送工作台可在所述取像环境与所述插破环境之间行进；以及一控制单元，所述控制单元用于控制执行下列步骤：令所述第一真空吸嘴接近所述电路基板，使所述第一真空吸嘴对所述电路基板提供所述第一真空吸力而吸取所述电路基板；令所述第一真空吸嘴带动所述电路基板至所述输送工作台，而后，令所述第一真空吸嘴停止对所述电路基板提供所述第一真空吸力；令所述输送工作台将所述电路基板输送至所述取像环境，而后，令所述取像头撷取所述电路基板的影像，接着，令所述识别模块根据所述取像头所撷取的影像，识别所述电路基板上是否存在所述不良品标记；以及当所述识别模块识别所述电路基板上存在所述不良品标记时，令所述输送工作台将所述电路基板输送至所述插破环境，而后，令所述刀具执行所述插破作业而插破所述电路基板的所述电路，以破坏所述电路基板的电路特性，而防止存在所述不良品标记的所述电路基板被误用。

较佳地，于本实用新型的自动光学检查系统中，所述至少一电路基板为复数迭设的电路基板，且所述自动光学检查系统还包括一料架，所述料架具有一载台与一升降结构，所述载台可承载所述复数电路基板，所述升降结构可抬升所述载台，以使所述载台上的复数电路基板的最高者能够到达所述第一真空吸嘴可吸取的位置，俾便所述第一真空吸嘴吸取所述复数电路基板中的最高者，所述升降结构还可使所述载台下降，以在所述载台上方形成空间而供将所述复数电路基板置放到所述载台。

较佳地，于本实用新型的自动光学检查系统中，所述第一真空吸座还可具有一第一真空吸座X轴导引轨道与一第一真空吸座Z轴导引轨道，所述第一真空吸座X轴导引轨道可引导所述第一真空吸嘴在一X轴向上移动，所述第一真空吸座Z轴导引轨道可引导所述第一真空吸嘴在一Z轴向上移动，使所述第一真空吸嘴可带动所述电路基板至所述输送工作台。