[实用新型]多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置有效

专利信息
申请号: 201820799175.7 申请日: 2018-05-28
公开(公告)号: CN208333704U 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 程跃;胡园园;鲍晋珍;方宏晨;郑春良;庄志 申请(专利权)人: 珠海恩捷新材料科技有限公司
主分类号: G01K13/00 分类号: G01K13/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 519100 广东省珠海市平*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 第一腔室 内侧壁表面 第二腔室 密封罩体 升降台 本实用新型 测试系统 测试装置 多孔薄膜 供气系统 加热系统 闭孔 破膜 贯通 温度检测机构 压力检测机构 测试 测试模具 依次连接 中控系统 上腔体 下腔体 电阻 突变
【权利要求书】:

1.一种多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:供气系统、与所述供气系统连接的干燥及加热系统,与所述干燥及加热系统连接的测试系统,以及与所述测试系统连接的中控系统;其中,所述测试系统包括:

密封罩体;

测试上腔体,固定于所述密封罩体的顶部内侧,所述测试上腔体具有贯通其顶部和底部的第一腔室,且所述第一腔室的顶部与所述干燥及加热系统连接;

第一压力检测机构,固定于所述第一腔室靠近底部的一内侧壁表面,并与所述中控系统电连接;

温度检测机构,固定于所述第一腔室靠近底部的另一内侧壁表面,并与所述中控系统电连接;

升降台,固定于所述密封罩体的底部内侧;

测试下腔体,固定于所述升降台的顶部,所述测试下腔体具有贯通其顶部和底部的第二腔室,且所述第二腔室设于所述第一腔室的正下方;

第二压力检测机构,固定于所述第二腔室靠近顶部的一内侧壁表面,并与所述中控系统电连接。

2.根据权利要求1所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述密封罩体包括:罩体本体及壁门,其中,所述壁门设于所述罩体本体的外壁表面。

3.根据权利要求2所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述密封罩体还包括:若干热辐射灯,所述热辐射灯安装于所述罩体本体的内侧壁表面。

4.根据权利要求1、2或3所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述供气系统包括:储气罐、气体管路及稳压阀,其中,所述气体管路与所述储气罐的出气口连接,所述稳压阀设于所述气体管路上。

5.根据权利要求1、2或3所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述干燥及加热系统包括:干燥机、三通阀、稳压阀、耐高温导气管及加热机构;其中,所述干燥机的入口与所述供气系统连接,所述干燥机的出口与所述三通阀的一通路连接,所述三通阀的二通路与所述稳压阀连接,所述三通阀的三通路与所述耐高温导气管的入口连接,所述耐高温导气管的出口与所述第一腔室的顶部连接,所述加热机构设于所述耐高温导气管内。

6.根据权利要求5所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述加热机构包括螺旋状电阻丝,其中,所述螺旋状电阻丝通过外接线缆与所述中控系统电连接。

7.根据权利要求1、2或3所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述中控系统包括:第一压力读取模块、第二压力读取模块、压力降检测模块、温度读取模块、控制模块及显示模块,其中,所述第一压力读取模块与所述第一压力检测机构电连接,所述第二压力读取模块与所述第二压力检测机构电连接,所述压力降检测模块分别与所述第一压力读取模块及所述第二压力读取模块电连接,所述温度读取模块与所述温度检测机构电连接,所述压力降检测模块和所述温度读取模块均通过所述控制模块与所述显示模块电连接。

8.根据权利要求1、2或3所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:中空走线机构,用以放置电连接所述测试系统和所述中控系统的电连线。

9.根据权利要求8所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述中空走线机构包括中空柱状结构。

10.根据权利要求8所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:具有中空走线槽的底板,其中,所述测试系统和所述中空走线机构分别固定于所述中空走线槽两端的所述底板上,且所述中空走线槽与所述中空走线机构连通。

11.根据权利要求1所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述测试上腔体和所述测试下腔体的横截面的形状均包括圆环形,且圆环形的大小相同。

12.根据权利要求1所述的多孔薄膜闭孔温度和破膜温度的测试装置,其特征在于,所述第一压力检测机构包括压力传感器,所述第二压力检测机构包括压力传感器,所述温度检测机构包括热电偶。

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