[实用新型]一种测试探针装置及具有测试探针装置的测试系统有效

专利信息
申请号: 201820824886.5 申请日: 2018-05-30
公开(公告)号: CN208421014U 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 聂远;马金刚;张明;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族光电设备有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 代理人: 陈琳
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 探针 测试探针装置 待测材料 探针头 本实用新型 探针固定块 测试系统 点接触 外部 测试探针 测试效率 充分接触 测试
【权利要求书】:

1.一种测试探针装置,其特征在于:所述测试探针装置包括至少两根探针,以及与每一所述探针下部固定连接的探针固定块,每一所述探针的上部均设有用于与外部待测材料点接触的探针头。

2.根据权利要求1所述的测试探针装置,其特征在于:所述测试探针装置还包括与探针固定块连接的固定座,所述固定座的上方设有绝缘件,所述绝缘件上设有与每一所述探针头相适应的通孔,所述探针头穿设并伸出通孔。

3.根据权利要求2所述的测试探针装置,其特征在于:每一所述探针头与测试探针装置的高度方向成夹角α。

4.根据权利要求2所述的测试探针装置,其特征在于:所述测试探针装置还包括底座,所述固定座活动安装于底座上。

5.根据权利要求4所述的测试探针装置,其特征在于:所述底座设有滑动槽,所述滑动槽至少设有一第一槽孔,所述固定座活动安装于滑动槽中,且设有与第一槽孔对应的第二槽孔。

6.根据权利要求2所述的测试探针装置,其特征在于:所述绝缘件包括陶瓷片。

7.根据权利要求1-6任一所述的测试探针装置,其特征在于:所述测试探针装置包括四根探针。

8.根据权利要求1-6任一所述的测试探针装置,其特征在于:所述探针头与探针下部之间设有弹性件。

9.根据权利要求2所述的测试探针装置,其特征在于:所述外部待测材料包括LED材料。

10.一种测试系统,其特征在于:所述测试系统包括放置或运输待测材料的平台,以及用于与待测材料点接触且如权利要求1-9任一所述的测试探针装置。

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