[实用新型]一种测试探针装置及具有测试探针装置的测试系统

说明书

本实用新型涉及测试探针技术领域，具体涉及一种测试探针装置。所述测试探针装置包括至少两根探针，以及与每一所述探针下部固定连接的探针固定块，每一所述探针的上部均设有用于与外部待测材料点接触的探针头。本实用新型还涉及一种测试系统。通过设置至少两根探针，设置与每一所述探针下部固定连接的探针固定块，每一所述探针的上部均设有用于与外部待测材料点接触的探针头，减少探针头与外部待测材料的接触面积，使探针头与尺寸较小或有缺陷的待测材料充分接触，提高测试精度，提高测试效率。

技术领域

本实用新型涉及测试探针技术领域，具体涉及一种测试探针装置及具有测试探针装置的测试系统。

背景技术

LED是半导体二极管的一种，可以把电能转化成光能。LED与普通二极管一样是由一个PN结组成，也具有单向导电性。当给LED加上正向电压后，从P区注入到N区的空穴和由N区注入到P区的电子，在PN结附近数微米内分别与N区的电子和P区的空穴复合，产生自发辐射的荧光。不同的半导体材料中电子和空穴所处的能量状态不同。当电子和空穴复合时释放出的能量多少不同，释放出的能量越多，则发出的光的波长越短。常用的是发红光、绿光或黄光的二极管。

LED自动化测试设备测试很多种不同型号的材料，其中有些引脚不外露以及尺寸较小的材料，甚至有一些研发初期工艺缺陷的材料。传统的测试探针为块状结构，对这些LED材料或其他尺寸较小或有缺陷的材料进行测试时，与材料是线接触或面接触，存在测试精度不高，甚至无法测试，测试效率低的问题。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种测试探针装置，克服现有的测试探针测试尺寸较小或有缺陷的材料时，测试精度不高，甚至无法测试，测试效率低的问题。

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种测试系统，克服现有的测试探针测试尺寸较小或有缺陷的材料时，测试精度不高，甚至无法测试，测试效率低的问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种测试探针装置，包括至少两根探针，以及与每一所述探针下部固定连接的探针固定块，每一所述探针的上部均设有用于与外部待测材料点接触的探针头。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述测试探针装置还包括与探针固定块连接的固定座，所述固定座的上方设有绝缘件，所述绝缘件上设有与每一所述探针头相适应的通孔，所述探针头穿设并伸出通孔。

本实用新型的更进一步优选方案是：每一所述探针头与测试探针装置的高度方向成夹角α。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述测试探针装置还包括底座，所述固定座活动安装于底座上。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述底座设有滑动槽，所述滑动槽至少设有一第一槽孔，所述固定座活动安装于滑动槽中，且设有与第一槽孔对应的第二槽孔。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述绝缘件包括陶瓷片。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述测试探针装置包括四根探针。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述探针头与探针下部之间设有弹性件。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述外部待测材料包括LED材料。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种测试系统，包括放置或运输待测材料的平台，以及用于与待测材料点接触的所述的测试探针装置。