[实用新型]一种多设备间配合偏差的检测系统有效
申请号: | 201820872388.8 | 申请日: | 2018-06-06 |
公开(公告)号: | CN208189548U | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | 贺云波;叶文涛;陈新;高健;杨志军;陈桪;崔成强;张凯;陈云;汤晖;张昌;何作雄 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 510060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 误差显示器 激光发射器 晶圆 搬运机器人 晶圆工作台 检测系统 本实用新型 多设备 基准点 夹持 机器人 机械手位置 激光点位置 位置精准 中心重合 光斑 可拆卸 可替换 配合 应用 保证 | ||
1.一种多设备间配合偏差的检测系统,其特征在于,包括安装于晶圆工作台的激光发射器(3)和安装于机器人夹持端的误差显示器(4),所述误差显示器(4)上设置有基准点,所述基准点与所述机器人夹持端的中心重合。
2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述误差显示器(4)包括安装架(41)和显示屏(42),所述基准点设置于所述显示屏(42)上,且所述显示屏(42)镶嵌于所述安装架(41)的竖板中心处,所述安装架(41)的横板与所述机器人夹持端连接。
3.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,所述显示屏(42)为圆形玻璃板。
4.根据权利要求3所述的检测系统,其特征在于,所述显示屏(42)上设置有预设量程且相垂直的刻度线。
5.根据权利要求4所述的检测系统,其特征在于,所述刻度线的最小单位为1mm。
6.根据权利要求1-5任意一项所述的检测系统,其特征在于,还包括用于安装所述激光发射器(3)的支撑台(2),以使所述激光发射器(3)的光束平行于所述晶圆工作台的平面。
7.根据权利要求6所述的检测系统,其特征在于,还包括用于安装所述支撑台(2)的卡位底座(1),所述支撑台(2)设置于所述卡位底座(1)中心处。
8.根据权利要求7所述的检测系统,其特征在于,所述卡位底座(1)周向上设置有至少两个用于与所述晶圆工作台卡接的卡槽。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造