[实用新型]一种辐照剂量计探头及辐照剂量计系统有效

专利信息
申请号: 201820941704.2 申请日: 2018-06-19
公开(公告)号: CN208780822U 公开(公告)日: 2019-04-23
发明(设计)人: 张薇;刘刚 申请(专利权)人: 北京锐达芯集成电路设计有限责任公司
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 101111 北京市大兴区经济技术*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐照剂量 探头 本实用新型 剂量计
【权利要求书】:

1.一种辐照剂量计探头,其特征在于,所述辐照剂量计探头包括基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件,

所述基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件的栅极和漏极短接并接地,基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件的源极连接至提供偏置的电路,且所述源极的输出电压作为监测结果输出至下一级电路。

2.一种辐照剂量计系统,其特征在于,包括如权利要求1所述的辐照剂量计探头。

3.如权利要求2所述的辐照剂量计系统,其特征在于,还包括:

恒流输出电路,向所述辐照剂量计探头提供偏置;以及

读出电路,连接至所述辐照剂量计探头的输出端。

4.如权利要求3所述的辐照剂量计系统,其特征在于,所述读出电路包括运算放大器,对所述辐照剂量计探头的输出进行运算放大,作为辐照计量结果输出。

5.如权利要求4所述的辐照剂量计系统,其特征在于,所述读出电路还包括数据采集电路显示和/或存储所述辐照计量结果。

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