[实用新型]一种辐照剂量计探头及辐照剂量计系统有效

专利信息
申请号: 201820941704.2 申请日: 2018-06-19
公开(公告)号: CN208780822U 公开(公告)日: 2019-04-23
发明(设计)人: 张薇;刘刚 申请(专利权)人: 北京锐达芯集成电路设计有限责任公司
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 101111 北京市大兴区经济技术*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐照剂量 探头 本实用新型 剂量计
【说明书】:

实用新型公开一种辐照剂量计探头,剂量计探头包括基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件。本实用新型还公开了一种辐照剂量计系统,其包括辐照剂量计探头,辐照剂量计探头包括基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件。

技术领域

本实用新型涉及半导体固体辐照剂量探测技术领域。更具体地,涉及一种辐照剂量计探头及辐照剂量计系统。

背景技术

随着空间技术、核技术和战略武器技术的发展,各种电子设备已经广泛用于人造卫星、宇宙飞船、运载火箭、远程导弹和核武器控制系统中,构成电子设备的电子元器件不可避免地要处于空间辐射和核辐射等强辐射应用环境之中,但空间带电粒子辐照环境具有异常复杂与多变性,加之卫星运行轨道不同,电离辐照剂量计的工作环境较为恶劣,造成远程在线实时监测系统变得很难,使整个电子设备发生故障。

因此,器件的抗辐射加固技术水平的全面提高就显得更为重要和迫切,其中最基本的任务之一就是对空间辐射环境数据的收集和研究,通过对这些数据的收集与研究,一方面可在地面人工模拟空间辐照环境,进行相关元器件的辐照评估实验验证,不仅可以大大减少辐照评估验证方案的实施难度,也极大的降低成本;另一方面,在空间设备运作过程中通过实时监测周边环境的辐照剂量,可有效评估周边环境危险程度,能够及时、有效的规避风险,避免更大的损失。但是,目前的辐照剂量计一般双栅工艺、MOS工艺或SOI工艺等的PMOS阵列,工艺集成度不高、灵敏度不高,不能有效评估周边环境的危险程度,为实际应用造成了隐患。

因此,需要提供一种高灵敏度、高集成度和稳定性的辐照剂量计探头及辐照剂量计系统。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种高灵敏度、高集成度和稳定性的辐照剂量计探头及辐照剂量计系统。

为达到上述目的,本实用新型采用下述技术方案:

本申请的一方面提供一种辐照剂量计探头,辐照剂量计探头包括基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件。

优选地,基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件的栅极和漏极短接并接地,基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件的源极连接至提供偏置的电路,且源极的输出电压作为监测结果输出至下一级电路。

优选地,包括上述辐照剂量计探头。

优选地,还包括:恒流输出电路,向辐照剂量计探头提供偏置;以及读出电路,连接至辐照剂量计探头的输出端。

优选地,基于BCD工艺的P沟道LDMOS器件的栅极和漏极短接并接地,源极连接至大于阈值的偏压,且源极的输出电压作为监测结果输出至下一级电路。

优选地,读出电路包括运算放大器,对辐照剂量计探头的输出进行运算放大,作为辐照计量结果输出。

优选地,读出模块还包括数据采集电路显示和/或存储辐照计量结果。

本实用新型的有益效果如下:

本实用新型所述技术方案一种高灵敏度、高集成度和稳定性的辐照剂量计探头及辐照剂量计系统。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明;

图1为根据本申请的示例性辐照剂量计系统的结构框图;

图2为根据本申请的示例性辐照剂量计探头的示意性结构的剖面图;以及

图3为根据本申请的示例性辐照剂量计探头的工作电路的原理图。

具体实施方式

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