[实用新型]一种芯片分选机构有效
申请号: | 201821292632.X | 申请日: | 2018-08-09 |
公开(公告)号: | CN208738181U | 公开(公告)日: | 2019-04-12 |
发明(设计)人: | 黄新青;幸刚;刘佩杰;宋勇超;缪来虎 | 申请(专利权)人: | 深圳市华腾半导体设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683;H01L33/00 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 冯筠 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分选 芯片 分选架 空膜 粘贴 顶针 本实用新型 芯片分选 晶圆 通孔 架设 固定芯片 固定粘贴 维护方便 相对设置 一步到位 工艺流程 相对面 粘贴层 重排 掉料 刮伤 取放 贴附 吸嘴 摆放 整齐 | ||
1.一种芯片分选机构,包括分选架,及设于分选架一侧的粘贴架;其特征在于,所述分选架设有通孔;所述通孔用于固定粘贴有芯片的晶圆膜;所述分选架远于粘贴架的一侧设有分选顶针;所述粘贴架设有用于贴附被分选芯片的空膜;所述晶圆膜与空膜相对设置,且相对面均设有固定芯片的粘贴层。
2.根据权利要求1所述的一种芯片分选机构,其特征在于,所述分选顶针设置于设有的顶针盖中心内;所述顶针盖设有穿过分选顶针的通孔。
3.根据权利要求2所述的一种芯片分选机构,其特征在于,所述顶针盖与设有的真空发生装置联通;所述顶针盖朝向分选架一端设有若干个环形均匀分布的吸附孔,以使顶针盖吸附晶圆膜,分选顶针从晶圆膜背面将芯片顶出。
4.根据权利要求3所述的一种芯片分选机构,其特征在于,所述吸附孔均布于通孔的外周。
5.根据权利要求1所述的一种芯片分选机构,其特征在于,所述通孔的边缘处设有扣环;所述晶圆膜固定于设有的扩晶环;所述扩晶环夹紧固定于扣环。
6.根据权利要求5所述的一种芯片分选机构,其特征在于,所述扣环设有切口,且切口两侧分别与设有的弹簧两端固定联接,以使扣环通过弹簧弹力固定扩晶环;所述分选架近于切口处设有卡紧块。
7.根据权利要求1述的一种芯片分选机构,其特征在于,所述通孔两侧设置有用于卸载扩晶环的卸料槽。
8.根据权利要求1所述的一种芯片分选机构,其特征在于,所述粘贴架远于分选架一侧设有顶轴;所述顶轴与分选顶针相对应设置。
9.根据权利要求1所述的一种芯片分选机构,其特征在于,所述分选顶针的针尖直径为15-25μm。
10.根据权利要求1所述的一种芯片分选机构,其特征在于,还包括距离检测件;所述检测件用于检测分选架与粘贴架之间的距离。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造