[实用新型]一种芯片测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；

电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换，输出指示灯与拨码器并接被测芯片的输出脚，被测芯片在测试时安装在芯片测试座上，电压表一端与电源的负极连接，电压表另一端连接拨码器的公共触点。

2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，

所述分压电阻为4个串联的电阻。

3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，

分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口焊接在PCB电路板上。

4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，

所述电源输入接口为USB接口，USB接口焊接在PCB电路板的边缘处。

5.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，

所述输出指示灯1与拨码器并接被测芯片的输出脚包括：拨码器的每一个引脚对应一个指示灯，共有4组引脚和指示灯，每组引脚和指示灯并联接入被测芯片的一个输出引脚。

6.根据权利要求1至5任一项所述的芯片测试装置，其特征在于，

所述电源为5V电源。