[实用新型]一种芯片测试装置

说明书

本实用新型提出一种芯片测试装置，包括：分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换。本实用新型解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及机电领域，尤其涉及一种芯片测试装置。

背景技术

现有技术中，LM324N和LM224N四路运算放大器常用于煤矿QBZ-30、QBZ2-30真空电磁启动，以及用在ZBZ-4.0煤电钻综保和ZBZ-4.0(M)照明综保等保护插件关键元件上。上述元件由于井下供电环境复杂属易损元件，但是目前没有简单有效的方法测试上述元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升。

实用新型内容

基于以上问题，本实用新型提出一种芯片测试装置，解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。

本实用新型提出一种芯片测试装置，包括：

分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；

电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换，输出指示灯与拨码器并接被测芯片的输出脚，被测芯片在测试时安装在芯片测试座上，电压表一端与电源的负极连接，电压表另一端连接拨码器的公共触点。

此外，所述分压电阻为4个串联的电阻。

此外，分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口焊接在PCB电路板上。

此外，所述电源输入接口为USB接口，USB接口焊接在PCB电路板的边缘处。

此外，所述输出指示灯1与拨码器并接被测芯片的输出脚包括：拨码器的每一个引脚对应一个指示灯，共有4组引脚和指示灯，每组引脚和指示灯并联接入被测芯片的一个输出引脚。

此外，所述电源为5V电源。

通过采用上述技术方案，具有如下有益效果：

本实用新型解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。本实施例能够简单方便的检测LM324N和LM224N中的芯片是否损坏，从而使其仅更换芯片即可。

附图说明

图1是本实用新型一个实施例提供的芯片测试装置的电路原理图；

图2是本实用新型一个实施例提供的芯片测试装置的示意图。

具体实施方式

以下结合具体实施方案和附图对本实用新型进行进一步的详细描述。其只意在详细阐述本实用新型的具体实施方案，并不对本实用新型产生任何限制，本实用新型的保护范围以权利要求书为准。

参照图1，本实用新型提出一种芯片测试装置，包括：

分压电阻2、输出指示灯1、电压表3、拨码器6、转换开关4、芯片测试座5、电源7和电源输入接口8，