[实用新型]一种量化DDR系统稳定性的测试夹具有效
| 申请号： | 201821413809.7 | 申请日： | 2018-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN208921740U | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 张小平 | 申请（专利权）人： | 深圳市阿龙电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 赵雪佳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 可调 信号产生模块 本实用新型 测试夹具 万用表 量化 测试领域 测试模块 接口信号 主板供电 原有的 省力 省时 主板 电源 | ||
1.一种量化DDR系统稳定性的测试夹具，所述DDR系统加载在所述DDR系统主板上，所述DDR系统主板能够产生VREE信号和ZQ信号，其特征在于：包括用于为待测DDR系统主板供电的电源，用于接收DDR系统接口信号、指示DDR系统工作状态的测试模块，与所述待测DDR系统主板相连的可调VREE信号产生模块和用于显示可调VREE信号产生模块调整后的电压的第一万用表，其中，所述可调VREE信号产生模块能够产生一个可调VREF信号，将所述可调VREF信号加在原有的VREF信号上。
2.根据权利要求1所述的量化DDR系统稳定性的测试夹具，其特征在于：还包括与所述DDR系统主板相连的可调ZQ信号产生模块，所述可调ZQ信号产生模块能够产生一个可调ZQ信号，将所述可调ZQ信号叠加在原有的ZQ信号上。
3.根据权利要求2所述的量化DDR系统稳定性的测试夹具，其特征在于：所述可调ZQ信号产生模块包括可调电阻RW3，所述可调电阻RW3的一端接地，可调端接测试夹具的可调ZQ端子，所述可调ZQ端子与DDR系统主板的ZQ信号输出端相连。
4.根据权利要求3所述的量化DDR系统稳定性的测试夹具，其特征在于：所述测试夹具还包括显示所述可调电阻RW3阻值的第二万用表。
5.根据权利要求1-4任一项所述的量化DDR系统稳定性的测试夹具，其特征在于：所述可调VREE信号产生模块包括LDO芯片、可调电阻RW1、可调电阻RW2，其中，所述LDO芯片的第一管脚与可调电阻RW1的可调端相连，所述可调电阻RW1的一端分别与LDO芯片的第二管脚和可调电阻RW2的一端相连，所述可调电阻RW1和可调电阻RW2的另一端接地，所述可调电阻RW2的可调端接可调VREF端子，所述可调VREF端子与DDR系统主板的VREF信号输出端相连，所述LDO芯片的第三管脚接电源端子。
6.根据权利要求5所述的量化DDR系统稳定性的测试夹具，其特征在于：所述电源端子和接地端子、所述可调VREF端子和接地端子之间均设有电容。
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