[实用新型]一种量化DDR系统稳定性的测试夹具

说明书

本实用新型提供一种量化DDR系统稳定性的测试夹具，属于DDR测试领域。本实用新型包括用于为待测DDR系统主板供电的电源，用于接收DDR系统接口信号、指示DDR系统工作状态的测试模块，与所述待测DDR系统主板相连的可调VREE信号产生模块和用于显示可调VREE信号产生模块调整后的电压的第一万用表，其中，所述可调VREE信号产生模块能够产生一个可调VREF信号，将所述可调VREF信号加在原有的VREF信号上。本实用新型的有益效果为：操作简便快捷，测试结果更可靠，效率更高，省时省力。

技术领域

本实用新型涉及一种测试夹具，尤其涉及一种量化DDR系统稳定性的测试夹具。

背景技术

如今包含DDR(双倍速率同步动态随机存储器)的电子设备数不胜数，且容量越来越大，速度越跑越快，因此对DDR的稳定性的要求也越来越高，DDR的性能直接影响到一个产品的成败，而影响DDR性能的因素却是方方面面的，比如电源是否干净/走线是否合理/软硬搭配是否正确等。那么怎么才能快速的验证DDR在某个平台上的性能是否达标呢？以往的做法就是测试，通过一定数量的机器来做各种各样测试，比如功能测试/老化测试/高低温测试等。但这些方法都是很费时费力的，这种方法对DDR稳定性的言判最多是稳定或者不稳定两种结果，而且当测试数量不够多的情况下还很容易误判。

图1是DDR使用时常见的架构，VREF产生电路一般为VDD通过2个分压电阻分压成1/2VDD即VREF电压，此电压给到主控和DDR内部做为一个参考电压基准使用，数据线和地址线上的高低信号都是参考VREF来工作，幅度高出VREF一定幅度时则为高，低于VREF一定幅度时则为低。ZQ信号则是通过外接一个合适的ZQ电阻来达到最佳的阻抗匹配，使系统达到一个相对稳定的状态。

以MID平板电脑为例，图2展示的是常见的功能测试夹具示意图，夹具通过顶针或者FPC软排线的连接方式，给待测主板电源，并将需要用到的接口信号全部引到夹具上来，便于进行各项功能测试。这种方法对DDR稳定性的言判同样只有稳定或者不稳定两种结果，无法对产品进行性能对比。

实用新型内容

为解决现有技术中的问题，本实用新型提供一种量化DDR系统稳定性的测试夹具，能够对DDR在某个平台上的稳定程度做出比较直观的量化。

本实用新型涉及的DDR系统加载在所述DDR系统主板上，所述DDR系统主板能够产生VREE信号和ZQ信号，本实用新型包括用于为待测DDR系统主板供电的电源，用于接收DDR系统接口信号、指示DDR系统工作状态的测试模块，与所述待测DDR系统主板相连的可调VREE信号产生模块和用于显示可调VREE信号产生模块调整后的电压的第一万用表，其中，所述可调VREE信号产生模块能够产生一个可调VREF信号，将所述可调VREF信号加在原有的VREF信号上。

本实用新型作进一步改进，还包括与所述DDR系统主板相连的可调ZQ信号产生模块，所述可调ZQ信号产生模块能够产生一个可调ZQ信号，将所述可调ZQ信号叠加在原有的ZQ信号上。

本实用新型作进一步改进，所述可调ZQ信号产生模块包括可调电阻RW3，所述可调电阻RW3的一端接地，可调端接测试夹具的可调ZQ端子，所述可调ZQ端子与DDR系统主板的ZQ信号输出端相连。

本实用新型作进一步改进，所述测试夹具还包括显示所述可调电阻RW3阻值的第二万用表。

本实用新型作进一步改进，所述可调VREE信号产生模块包括LDO芯片、可调电阻RW1、可调电阻RW2，其中，所述LDO芯片的第一管脚与可调电阻RW1的可调端相连，所述可调电阻RW1的一端分别与LDO芯片的第二管脚和可调电阻RW2的一端相连，所述可调电阻RW1和可调电阻RW2的另一端接地，所述可调电阻RW2的可调端接可调VREF端子，所述可调VREF端子与DDR系统主板的VREF信号输出端相连，所述LDO芯片的第三管脚接电源端子。