[实用新型]一种基于激光测量的物体变形量检测系统

权利要求书

1.一种基于激光测量的物体变形量检测系统，其特征在于，所述变形量检测系统包括激光发射单元、匀光单元、滤光单元、聚光单元、光电转换单元、信号调理单元、信号分析处理单元、存储单元、显示单元和按键输入单元，所述激光发射单元与所述匀光单元通过光纤连接，所述光电转换单元与所述信号调理单元、所述信号分析处理单元顺序连接，所述信号分析处理单元还分别与所述显示单元、所述存储单元、所述按键输入单元分别连接；所述变形量检测系统将光带投射到与被测物体轮廓垂直的位置，使所述光带一部分光线被所述被测物体挡住，另一部分光线投射到所述光电转换单元，输出电信号，根据所述电信号的变化量计算出所述被测物体形变大小，并进行存储和显示。

2.根据权利要求1所述的一种基于激光测量的物体变形量检测系统，其特征在于，所述激光发射单元采用半导体激光器，波长为638nm，能够连续工作，功率不稳定性小于3％；所述光纤采用多模方形光纤。

3.根据权利要求2所述的一种基于激光测量的物体变形量检测系统，其特征在于，所述匀光单元采用单透镜对光信号进行准直匀光处理，输出能量均匀的光带；所述单透镜焦距为为10mm，并在表面增涂覆了透膜，提高了所述单透镜的透过率，减小光能量损失。

4.根据权利要求3所述的一种基于激光测量的物体变形量检测系统，其特征在于，所述滤光单元采用滤光片滤除射入光带中的干扰光线，能够保证所需要的波长的光线透过，又能够屏蔽自然光；所述滤光片选择中心波长与所述半导体激光器波长一致。

5.根据权利要求4所述的一种基于激光测量的物体变形量检测系统，其特征在于，所述聚光单元采用平凸透镜对射入光带进行聚光处理；所述半导体激光器与所述光电转换单元安装在所述平凸透镜的焦平面上。

6.根据权利要求5所述的一种基于激光测量的物体变形量检测系统，其特征在于，所述光电转换单元采用PN型硅光二极管进行光电转换，输出电流信号；所述信号调理单元包括信号转换模块、信号放大模块和A/D转换模块，通过所述信号转换模块将电流信号转换为电压信号，通过所述信号放大模块对信号进行放大处理，通过所述A/D转换模块进行A/D转换，并通过所述存储单元进行存储。

7.根据权利要求6所述的一种基于激光测量的物体变形量检测系统，其特征在于，所述按键输入单元结合所述存储单元、所述显示单元完成参数设置和历史数据查询。