[实用新型]一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备有效
申请号: | 201821422304.7 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN208806389U | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | 赵鹏;孙楠;任海燕;崔怡;张哲;余菲 | 申请(专利权)人: | 北京实验工厂有限责任公司 |
主分类号: | H01R13/02 | 分类号: | H01R13/02;H01R25/00;H01R31/06;H01R13/73;H01R13/66;H01R13/70 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张欢 |
地址: | 100038 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 引线转接装置 测试转接装置 位移传感器性能 信号转接设备 连接电缆 测试 位移变换装置 本实用新型 位移传感器 测试过程 测试位移 次级线圈 外部电源 体积小 重量轻 传感器 通断 保管 运输 | ||
1.一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,包括引线转接装置(1)、连接电缆(7)、测试转接装置(8),引线转接装置(1)与测试转接装置(8)通过连接电缆(7)连接,引线转接装置(1)连接被测试的位移传感器,测试转接装置(8)连接外部电源、位移变换装置;引线转接装置(1)通过开关分别控制被测试位移传感器中次级线圈的通断。
2.根据权利要求1所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,所述引线转接装置(1)输出的待测试位移传感器交流输出电压通过连接电缆(7)传送至测试转接装置(8);测试转接装置(8)将位移变换装置产生的激励电压通过连接电缆(7)输出至引线转接装置(1),并将引线转接装置(1)输出的交流电压输入至位移变换装置,然后将位移变换装置的直流输出电压通过面板上的测试端子输出。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,所述引线转接装置(1)包括连接插座(2)、交流输出Ⅱ接线柱(3)、交流Ⅱ开关(4)、交流输出Ⅰ接线柱(5)、交流Ⅰ开关(6)、第一九芯插座(15);连接插座(2)上的八个接线点分别定义为红、蓝、黑、黄、橙、紫、绿、白接线点,其中,红、蓝、橙、紫接线点分别与第一九芯插座(15)连接;黑、黄接线点通过交流I开关(6)与第一九芯插座(15)连接,黑、黄接线点通过交流I开关(6)与交流输出Ⅰ接线柱(5)连接,交流I开关(6)实现切换;绿、白接线点通过交流Ⅱ开关(4)与第一九芯插座(15)连接,绿、白接线点通过交流Ⅱ开关(4)与交流输出Ⅱ接线柱(3)连接,交流Ⅱ开关(4)实现切换。
4.根据权利要求3所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,所述测试转接装置(8)包括33芯插座(9),开关(10),输出Ⅱ接线柱(12),输出Ⅰ接线柱(11)、电源输入接线柱(13)、第二九芯插座(14);33芯插座(9)输出两组激励电压的四个接线点和输入两组交流信号的四个接线点分别与第二九芯插座(14)连接;33芯插座(9)正、负电源输入点通过开关(10)连接电源输入接线柱(13)的正、负端,33芯插座(9)电源输入接地点接电源输入接线柱(13)的地端;33芯插座(9)两组输出点分别与输出Ⅰ接线柱(11)、输出Ⅱ接线柱(12)连接;位移变换装置与33芯插座(9)连接,位移变换装置上电后的直流输出电压通过测试转接装置(8)上的输出Ⅰ接线柱(11)、输出Ⅱ接线柱(12)输出。
5.根据权利要求4所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,连接电缆(7)两端分别与引线转接装置(1)的第一九芯插座(15)和测试转接装置(8)的第二九芯插座(14)连接。
6.根据权利要求3所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,所述交流Ⅱ开关(4)、交流Ⅰ开关(6)采用KN1-202双刀双掷钮子开关。
7.根据权利要求4所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,所述开关(10)采用KN1-202双刀双掷钮子开关。
8.根据权利要求5所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,所述连接电缆(7)两端使用的插头为J6-9TJ连接器。
9.根据权利要求3所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,所述第一九芯插座(15)为J6-9ZKB连接器。
10.根据权利要求4所述的一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备,其特征在于,所述第二九芯插座(14)为J6-9ZKB连接器。
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