[实用新型]一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备

说明书

一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备，包括引线转接装置(1)、连接电缆(7)、测试转接装置(8)，引线转接装置(1)与测试转接装置(8)通过连接电缆(7)连接，引线转接装置(1)连接被测试的位移传感器，测试转接装置(8)连接外部电源、位移变换装置；引线转接装置(1)通过开关分别控制被测试位移传感器中次级线圈的通断。本实用新型在测试过程中操作简单，重量轻，体积小，便于保管和运输。

技术领域

本实用新型涉及一种信号转接设备。

背景技术

近年来，随着自动化程度的不断提高，传感器的用量越来越大，传感器的结构也日益复杂，因此，也更需要进行完整的、细致的测试，从而确保交付的产品工作正常、可靠。针对位移传感器的生产，在其装配、试验过程中，为准确、快捷的评价位移传感器的性能，需要研制用于测试的相应设备，而根据以往的测试需要及位移传感器的结构特点，在测试过程中，只需要对一个线圈进行单独测试，而随着新技术的不断应用，原有位移传感器的结构发生了变化，一个产品具有了两组线圈，在这种情况下，原有用于测试的设备已无法保证同时对两个线圈同时进行测试，并且繁琐的接线过程也导致测试效率大大降低，因此，这种落后的测试方式已不能准确、可靠的体现产品的电性能，不能满足产品的测试需要。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备，可将外部激励电压最多同时传递给位移传感器的两个独立线圈，并可同时测试位移传感器两个独立线圈经变换后直流输出的信号转接设备。在提供位移传感器激励电压的基础上，本实用新型还可以通过开关将两个次级线圈与测试电路隔离，从而实现单独对次级线圈交流输出的测试；用于位移传感器配套位移变换装置的测试；在测试过程中操作简单，重量轻，体积小，便于保管和运输。

本实用新型所采用的技术方案是：一种用于位移传感器性能测试的信号转接设备，包括引线转接装置、连接电缆、测试转接装置，引线转接装置与测试转接装置通过连接电缆连接，引线转接装置连接被测试的位移传感器，测试转接装置连接外部电源、位移变换装置；引线转接装置通过开关分别控制被测试位移传感器中次级线圈的通断。

所述引线转接装置输出的待测试位移传感器交流输出电压通过连接电缆传送至测试转接装置；测试转接装置将位移变换装置产生的激励电压通过连接电缆输出至引线转接装置，并将引线转接装置输出的交流电压输入至位移变换装置，然后将位移变换装置的直流输出电压通过面板上的测试端子输出。

所述引线转接装置包括连接插座、交流输出Ⅱ接线柱、交流Ⅱ开关、交流输出Ⅰ接线柱、交流Ⅰ开关、第一九芯插座；连接插座上的八个接线点分别定义为红、蓝、黑、黄、橙、紫、绿、白接线点，其中，红、蓝、橙、紫接线点分别与第一九芯插座连接；黑、黄接线点通过交流I开关与第一九芯插座连接，黑、黄接线点通过交流I开关与交流输出Ⅰ接线柱连接，交流I开关实现切换；绿、白接线点通过交流Ⅱ开关与第一九芯插座连接，绿、白接线点通过交流Ⅱ开关与交流输出Ⅱ接线柱连接，交流Ⅱ开关实现切换。

所述测试转接装置包括33芯插座，开关，输出Ⅱ接线柱，输出Ⅰ接线柱、电源输入接线柱、第二九芯插座；33芯插座输出两组激励电压的四个接线点和输入两组交流信号的四个接线点分别与第二九芯插座连接；33芯插座正、负电源输入点通过开关连接电源输入接线柱的正、负端，33芯插座电源输入接地点接电源输入接线柱的地端；33芯插座两组输出点分别与输出Ⅰ接线柱、输出Ⅱ接线柱连接；位移变换装置与33芯插座连接，位移变换装置上电后的直流输出电压通过测试转接装置上的输出Ⅰ接线柱、输出Ⅱ接线柱输出。

连接电缆两端分别与引线转接装置的第一九芯插座和测试转接装置的第二九芯插座连接。

所述交流Ⅱ开关、交流Ⅰ开关采用KN1-202双刀双掷钮子开关。

所述开关采用KN1-202双刀双掷钮子开关。

所述连接电缆两端使用的插头为J6-9TJ连接器。