[实用新型]烧结芯片用拼装式工装模具及石墨筒有效
申请号: | 201821607363.1 | 申请日: | 2018-09-29 |
公开(公告)号: | CN209000887U | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 刘红双 | 申请(专利权)人: | 襄阳赛普尔电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 冯子玲 |
地址: | 441000 湖北省襄*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阶梯状圆形凹槽 石墨套 圆形凸台 石墨筒 本实用新型 工装模具 烧结芯片 石墨底座 第一级 拼装式 上表面 石墨舟 同圆心 钼片 匹配 粉尘污染 环形凹槽 烧结效果 依次叠放 烧结 槽底面 台阶面 下表面 圆盘型 叠放 装件 开口 | ||
本实用新型涉及一种烧结芯片用拼装式工装模具,包括石墨舟和安装在石墨舟上的石墨筒;所述石墨筒由一个石墨底座和一个以上的石墨套碗从下至上依次叠放而成;所述石墨套碗为圆盘型,其上表面设有一个同圆心的阶梯状圆形凹槽,所述阶梯状圆形凹槽的槽底面用于放置钼片,所述钼片的上表面高于所述阶梯状圆形凹槽的第一级台阶面,所述第一级台阶面上设有环形凹槽;所述石墨套碗的下表面设有同圆心的圆形凸台,所述圆形凸台与所述阶梯状圆形凹槽的开口相匹配;所述石墨底座上设有与所述圆形凸台相匹配的凹槽,用于叠放石墨套碗。本实用新型可以避免装件时产生粉尘污染,提高烧结效果,降低废品率;而且也避免了烧结时流铝的影响。
技术领域
本实用新型属于烧结工装模具技术领域,具体涉及一种烧结芯片用拼装式工装模具。
背景技术
烧结芯片一般是采用石墨舟工装模具,石墨舟上一般有两排工装位,每个工装位上安装有石墨筒,如图5所示石墨筒包括筒体和筒底。烧结芯片时,按顺序将钼片-铝箔- 硅片(图形朝上)-钼片-铝箔-硅片-.....叠放在石墨舟上的石墨筒内,互相贴实,再将石墨舟整体放入石英管内真空加热,铝箔在高温下熔化将钼片和硅片粘在一起。由于钼片、铝箔、硅片与石墨筒间的间隙小,一般只有0.1-0.2mm,在叠放钼片、铝箔和硅片的过程中容易从石墨筒上剐蹭下石墨粉到钼片和硅片之间,导致粘接不良成为废品;有时铝箔熔化从边上流出时会导致石墨筒破裂,或将成品与石墨筒(或/和石墨舟)浇黏在一起,造成烧结完成后取活困难;而且石墨筒和石墨舟之间也容易磕碰破裂。
实用新型内容
针对上述技术问题,本实用新型的目的在于提供一种烧结芯片用拼装式工装模具,本实用新型可以避免装件时产生粉尘污染,提高烧结效果,降低废品率;而且也避免了烧结时流铝的影响。
为实现上述目的,本实用新型所采取的技术方案是:
一种烧结芯片用拼装式工装模具,包括石墨舟和安装在石墨舟上的石墨筒;其特征在于:所述石墨筒由一个石墨底座和一个以上的石墨套碗从下至上依次叠放而成,所述石墨底座安装在石墨舟上;所述石墨套碗为圆盘型,其上表面设有一个同圆心的阶梯状圆形凹槽,所述阶梯状圆形凹槽的槽底面用于放置钼片,所述钼片的上表面高于所述阶梯状圆形凹槽的第一级台阶面,所述第一级台阶面上设有环形凹槽;所述石墨套碗的下表面设有同圆心的圆形凸台,所述圆形凸台与所述阶梯状圆形凹槽的开口相匹配;所述石墨底座上设有与所述圆形凸台相匹配的凹槽,用于叠放石墨套碗。
作为优选,所述石墨舟上设有若干个石墨筒,所述若干个石墨筒在石墨舟上呈两排均匀布置。
作为优选,所述石墨舟的尾端设有推拉钩块。
一种石墨筒,由一个石墨底座和一个以上的石墨套碗从下至上依次叠放而成;所述石墨套碗为圆盘型,其上表面设有一个同圆心的阶梯状圆形凹槽,所述阶梯状圆形凹槽的槽底面用于放置钼片,所述钼片的上表面高于所述阶梯状圆形凹槽的第一级台阶面,所述第一级台阶面上设有环形凹槽;所述石墨套碗的下表面设有同圆心的圆形凸台,所述圆形凸台与所述阶梯状圆形凹槽的开口相匹配;所述石墨底座上设有与所述圆形凸台相匹配的凹槽,用于叠放石墨套碗。
本实用新型的有益效果为:
1、本实用新型可以避免装件(即装钼片、铝箔、硅片)时产生粉尘污染,提高烧结效果,降低废品率。同时也避免了烧结时流铝的影响,而且防磕碰。
2、本实用新型的结构形式适用于先烧结后切割的工序,减少了芯片从石墨套碗中取出时边缘被磕碰的几率,合格率更高。
附图说明
图1为烧结芯片用拼装式工装模具的俯视示意图。
图2为烧结芯片用拼装式工装模具的侧面示意图。
图3为图2中石墨筒的放大示意图。
图4为石墨套碗的示意图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造