[实用新型]测试装置有效
| 申请号： | 201821607524.7 | 申请日： | 2018-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN208921835U | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 识别码 集成电路 测试基板 测试数据 测试装置 解析 扫描 测试技术领域 解析结果 人力成本 扫描效率 时间成本 相对设置 封装体 处理器 验证 测试 镜头 | ||
1.一种测试装置，其特征在于，包括：
测试基板，用于放置集成电路并对所述集成电路进行测试，以获取所述集成电路的测试数据；
解析镜头，与所述测试基板相对设置，用于扫描所述集成电路的封装体上的识别码，以使处理器解析所述识别码并根据解析结果与所述测试数据判断所述识别码的正确性。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：
机械手臂，用于抓取所述集成电路，并将所述集成电路放置在所述测试基板上。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试基板包括一个测试位置，所述测试位置能够放置一个所述集成电路；所述测试基板用于对所述测试位置处的所述集成电路进行测试，以得到所述测试位置处的所述集成电路的测试数据。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述解析镜头为一个且与所述测试位置相对设置。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试基板包括多个测试位置，各所述测试位置均能够放置一个所述集成电路，所述测试基板用于同时对各所述测试位置处的所述集成电路进行测试，以同时获取各所述测试位置处的所述集成电路的测试数据。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述解析镜头的数量与所述测试位置的数量相同，且所述解析镜头与所述测试位置一一对应，各所述解析镜头与对应的所述测试位置相对设置。
7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述解析镜头能够相对于所述测试基板移动。
8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
镜头移动轨道，用于控制所述解析镜头在所述镜头移动轨道中移动。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述解析镜头采用可拆卸的方式设置在所述镜头移动轨道中。
10.根据权利要求1～9中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述识别码由所述集成电路的芯片制程中的测试数据生成。
11.根据权利要求1～9中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述识别码为一维码或者二维码。
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