[实用新型]测试装置

说明书

本公开涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试装置。所述装置包括：测试基板，用于放置集成电路并对所述集成电路进行测试，以获取所述集成电路的测试数据；解析镜头，与所述测试基板相对设置，用于扫描所述集成电路的封装体上的识别码，以使处理器解析所述识别码并根据解析结果与所述测试数据判断所述识别码的正确性。本公开减少了扫描时间，提高了扫描效率，从而提高了识别码的验证效率，同时节省了时间成本和人力成本。

技术领域

本公开涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

集成电路的生产过程包括芯片生产阶段以及封装阶段，其中，在封装阶段需要将集成电路的芯片进行封装，并在封装体上打印识别码以识别芯片，最后对封装后的芯片进行测试。

但是，在实际的生产过程中，由于工作的疏忽，可能会存在封装体上的识别码打印错误的现象。因此，为了验证封装体上的识别码是否打印正确，在对封装后的芯片进行测试的阶段中，首先对封装体上的识别码进行扫描，并通过解析该识别码得到芯片在芯片生产过程中的各项数据，例如，测试数据、制成数据等，然后，对封装后的芯片进行测试，得到封装后的芯片的测试数据，最后，将封装后的芯片的测试数据与芯片生产阶段中的芯片的测试数据进行比对，若比对成功，则说明该识别码正确，若比对不成功，则说明该识别码不正确。

目前，在上述验证识别码的正确性的过程中，由于采用人工的方式扫描封装体上的识别码，因此，存在识别码验证效率低，人力成本高的问题。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种测试装置，进而至少在一定程度上克服由于采用人工的方式描识识别码使的识别码验证效率低，人力成本高的问题。

根据本公开的一个方面，提供一种测试装置，包括：

测试基板，用于放置集成电路并对所述集成电路进行测试，以获取所述集成电路的测试数据；

解析镜头，与所述测试基板相对设置，用于扫描所述集成电路的封装体上的识别码，以使处理器解析所述识别码并根据解析结果与所述测试数据判断所述识别码的正确性。

在本公开的一种示例性实施例中，所述测试装置还包括：

机械手臂，用于抓取所述集成电路，并将所述集成电路放置在所述测试基板上。

在本公开的一种示例性实施例中，所述测试基板包括一个测试位置，所述测试位置能够放置一个所述集成电路；所述测试基板用于对所述测试位置处的所述集成电路进行测试，以得到所述测试位置处的所述集成电路的测试数据。

在本公开的一种示例性实施例中，所述解析镜头为一个且与所述测试位置相对设置。

在本公开的一种示例性实施例中，所述测试基板包括多个测试位置，各所述测试位置均能够放置一个所述集成电路，所述测试基板用于同时对各所述测试位置处的所述集成电路进行测试，以同时获取各所述测试位置处的所述集成电路的测试数据。

在本公开的一种示例性实施例中，所述解析镜头的数量与所述测试位置的数量相同，且所述解析镜头与所述测试位置一一对应，各所述解析镜头与对应的所述测试位置相对设置。

在本公开的一种示例性实施例中，所述解析镜头能够相对于所述测试基板移动。

在本公开的一种示例性实施例中，所述装置还包括：

镜头移动轨道，用于控制所述解析镜头在所述镜头移动轨道中移动。

在本公开的一种示例性实施例中，所述解析镜头采用可拆卸的方式设置在所述镜头移动轨道中。