[实用新型]一种芯片测试设备

权利要求书

1.一种芯片测试设备，包括呈镜像对称的左夹具(2)和右夹具(3)，其特征在于：所述左夹具(2)和右夹具(3)之间设有芯片(1)，所述芯片(1)底部设有引脚，所述左夹具(2)右侧固定连接两个拉杆(4)，所述右夹具(3)左侧设有两个滑槽(5)，所述拉杆(4)滑动配合滑槽(5)，并且拉杆(4)贯穿滑槽(5)后固定连接限位块(6)，所述左夹具(2)和右夹具(3)的前后侧壁均设有弧形槽(8)，所述拉杆(4)套接有弹簧(7)，所述弹簧(7)的一端抵接弧形槽(8)，且弹簧(7)的另一端抵接限位块(6)，所述左夹具(2)和右夹具(3)均设有两个矩形槽(9)，所述矩形槽(9)穿设有固定杆(10)，所述固定杆(10)铰接阻尼铰链(11)，所述阻尼铰链(11)固定连接支撑杆(12)，所述支撑杆(12)固定连接支撑板(13)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述弹簧(7)为圆柱形螺旋弹簧，当左夹具(2)和右夹具(3)共同卡接芯片(1)时，弹簧(7)处于压缩状态。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述弧形槽(8)固定连接柔性垫(14)，所述柔性垫(14)为四分之一圆弧，并且柔性垫(14)均处于弧形槽(8)上远离拉杆(4)的一侧。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述阻尼铰链(11)为180度阻尼铰链。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述支撑板(13)的长度等于左夹具(2)的宽度，且当支撑板(13)处于最底端时，支撑板(13)与芯片(1)的引脚的水平高度差大于5mm。