[实用新型]一种芯片测试设备

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试设备，包括呈镜像对称的左夹具和右夹具，左夹具右侧固定连接两个拉杆，右夹具左侧设有两个滑槽，拉杆滑动配合滑槽，并且拉杆贯穿滑槽后固定连接限位块，左夹具和右夹具的前后侧壁均设有弧形槽，拉杆套接有弹簧，弹簧的一端抵接弧形槽，且弹簧的另一端抵接限位块，左夹具和右夹具均设有两个矩形槽，矩形槽穿设有固定杆，固定杆铰接阻尼铰链，阻尼铰链固定连接支撑杆，支撑杆固定连接支撑板，本实用新型通过左夹具和右夹具的共同夹持，形成对芯片很好的保护，避免在取用芯片时，手上油脂沾染，并通过可以折叠收纳的支撑板，防止芯片的引脚与地面直接接触，避免脚变形、损坏。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试设备。

背景技术

芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性，如消耗功率、运行速度、耐压度等。经测试后的芯片，依其电气特性划分为不同等级。经测试合格的产品贴上规格、型号及出厂日期等标识的标签并加以包装后即可出厂。而未通过测试的芯片则视其达到的参数情况定为降级品或废品。通常情况下，对芯片件进行测试的方法为：将外界直流电源的正极连接芯片的底部，负极与一个校准件相连接。在测试过程中需要用手多次拿取芯片，手指上的油脂容易污染芯片，并且在搬运过程中容易损伤引脚，造成引脚变形甚至损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试设备，包括呈镜像对称的左夹具和右夹具，所述左夹具和右夹具之间设有芯片，所述芯片底部设有引脚，所述左夹具右侧固定连接两个拉杆，所述右夹具左侧设有两个滑槽，所述拉杆滑动配合滑槽，并且拉杆贯穿滑槽后固定连接限位块，所述左夹具和右夹具的前后侧壁均设有弧形槽，所述拉杆套接有弹簧，所述弹簧的一端抵接弧形槽，且弹簧的另一端抵接限位块，所述左夹具和右夹具均设有两个矩形槽，所述矩形槽穿设有固定杆，所述固定杆铰接阻尼铰链，所述阻尼铰链固定连接支撑杆，所述支撑杆固定连接支撑板。

优选的，所述弹簧为圆柱形螺旋弹簧，当左夹具和右夹具共同卡接芯片时，弹簧处于压缩状态。

优选的，所述弧形槽固定连接柔性垫，所述柔性垫为四分之一圆弧，并且柔性垫均处于弧形槽上远离拉杆的一侧。

优选的，所述阻尼铰链为180度阻尼铰链。

优选的，所述支撑板的长度等于左夹具的宽度，且当支撑板处于最底端时，支撑板与芯片的引脚的水平高度差大于5mm。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型通过左夹具和右夹具的共同夹持，形成对芯片很好的保护，避免在取用芯片时，手上油脂沾染，并通过可以折叠收纳的支撑板，防止芯片的引脚与地面直接接触，避免脚变形、损坏，结构简明，使用方便；

2.本实用新型将柔性垫设置成均处于弧形槽上远离拉杆的一侧，凭借柔性垫拉动弧形槽时，手指可以获得舒适度，同时由于弧形槽固定连接柔性垫，柔性垫均处于弧形槽上远离拉杆的一侧，凭借柔性垫拉动弧形槽时，手指可以获得舒适度。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为图1的局部剖视图；

图3为图1的俯视图；

图4为本实用新型中左夹具结构示意图。

图中：1芯片、2左夹具、3右夹具、4拉杆、5滑槽、6限位块、7弹簧、8弧形槽、9矩形槽、10固定杆、11阻尼铰链、12支撑杆、13支撑板、14柔性垫。

具体实施方式