[实用新型]微控制器管脚参数自动测试平台有效
| 申请号： | 201821621482.2 | 申请日： | 2018-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN209372983U | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 梁青武;冯兵;熊峰;张泳 | 申请（专利权）人： | 上海菱沃铂智能技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 应小波 |
| 地址： | 200070 上海市静*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动测试平台 被测芯片 数字电源 数字万用表 电子负载 控制板 本实用新型 继电器开关 管脚参数 微控制器 测试电路 测试流程 测试平台 测试 | ||
1.一种微控制器管脚参数自动测试平台，该平台与被测芯片(RB005)连接，其特征在于，所述的测试平台包括数字万用表(RB001)、电子负载(RB002)、数字电源(RB003)和IO管脚自动测试平台控制板(RB004)，所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别与数字万用表(RB001)、被测芯片(RB005)连接，所述的数字万用表(RB001)通过继电器开关分别与电子负载(RB002)、数字电源(RB003)、被测芯片(RB005)连接，所述的电子负载(RB002)与IO管脚自动测试平台控制板(RB004)连接，所述的数字电源(RB003)通过继电器开关分别与数字电源(RB003)、被测芯片(RB005)连接。
2.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台，其特征在于，所述的数字万用表(RB001)为六位半数字万用表。
3.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台，其特征在于，所述的电子负载(RB002)为可编程电子负载。
4.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台，其特征在于，所述的数字电源(RB003)为可编程数字电源。
5.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台，其特征在于，所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K3、继电器开关K1与被测芯片(RB005)的IO管脚连接，所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K4、继电器开关K2与电子负载(RB002)的正极连接，所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别通过串口与数字万用表(RB001)、电子负载(RB002)和被测芯片(RB005)连接，构成微控制器管脚拉电流测试装置。
6.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台，其特征在于，所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K3、继电器开关K1与被测芯片(RB005)的IO管脚连接，所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K4、继电器开关K2与电子负载(RB002)的负极连接，所述的数字电源(RB003)的正极与电子负载(RB002)的正极连接，所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别通过串口与数字万用表(RB001)、电子负载(RB002)和被测芯片(RB005)连接，构成微控制器管脚灌电流测试装置。
7.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台，其特征在于，所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K5、继电器开关K1与被测芯片(RB005)的IO管脚输出接口连接，所述的电子负载(RB002)正极依次通过继电器开关K2、继电器开关K7与被测芯片(RB005)的IO管脚输入接口连接，所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别通过串口与数字万用表(RB001)、数字电源(RB003)和被测芯片(RB005)连接，构成微控制器管脚输入电平特性测试装置。
8.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台，其特征在于，所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K12、继电器开关K5与数字模拟转换器DAC连接，所述的数字万用表(RB001)通过继电器开关K13与数字电源(RB003)的正极连接，所述的数字电源(RB003)的正极通过继电器开关K15与被测芯片(RB005)的VDD管脚连接，所述的数字模拟转换器依次通过继电器开关K5、继电器开关K14与被测芯片(RB005)的IO管脚连接，所述的被测芯片(RB005)的VSS管脚依次通过继电器开关K11、继电器开关K9后接在继电器开关K14与被测芯片(RB005)IO管脚之间，所述的被测芯片(RB005)的VSS管脚通过继电器开关K10接在继电器开关K14和继电器开关K5之间，所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别与数字模拟转换器DAC、数字电源(RB003)和被测芯片(RB005)连接，构成微控制器管脚二极管特性测试装置。
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