[实用新型]微控制器管脚参数自动测试平台有效
申请号: | 201821621482.2 | 申请日: | 2018-09-30 |
公开(公告)号: | CN209372983U | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 梁青武;冯兵;熊峰;张泳 | 申请(专利权)人: | 上海菱沃铂智能技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R19/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 应小波 |
地址: | 200070 上海市静*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动测试平台 被测芯片 数字电源 数字万用表 电子负载 控制板 本实用新型 继电器开关 管脚参数 微控制器 测试电路 测试流程 测试平台 测试 | ||
本实用新型涉及一种微控制器管脚参数自动测试平台,该平台与被测芯片连接,所述的测试平台包括数字万用表、电子负载、数字电源和IO管脚自动测试平台控制板,所述的IO管脚自动测试平台控制板分别与数字万用表、被测芯片连接,所述的数字万用表通过继电器开关分别与电子负载、数字电源、被测芯片连接,所述的电子负载与IO管脚自动测试平台控制板连接,所述的数字电源通过继电器开关分别与数字电源、被测芯片连接。与现有技术相比,本实用新型具有无需在每次测试时重新搭建测试电路,简化了测试流程等优点。
技术领域
本实用新型涉及微控制器管脚参数测试技术,尤其是涉及一种微控制器管脚参数自动测试平台。
背景技术
目前微控制器管脚参数测试基本上是人工搭建好电路再利用相关的测量仪器进行测量,主要不足之处有如下几点:
测试流程复杂:每次测试前都需要重新搭建电路,且不同参数测试的电路原理不同,因此电路的搭建、调试以及测试过程的操作都较为耗时,测试人员还需要具有相关的专业知识以及良好的心理素质才能完成此测试工作。
测试费用昂贵:有些失效分析的曲线若人工测试则需要测试大量数据,测试过较为复杂,测试结果偏差较大,这种情况下的测试会交由其它测试厂家用精密仪器进行测试,但测试费用高昂,一般只会在分析特殊问题时才会使用。
测试精度有限:有些参数测试在测量仪器相同的情况下受环境和操作流程影响较大,使测试数据的精度受限。
实用新型内容
本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种微控制器管脚参数自动测试平台。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现:
一种微控制器管脚参数自动测试平台,该平台与被测芯片连接,所述的测试平台包括数字万用表、电子负载、数字电源和IO管脚自动测试平台控制板,所述的 IO管脚自动测试平台控制板分别与数字万用表、被测芯片连接,所述的数字万用表通过继电器开关分别与电子负载、数字电源、被测芯片连接,所述的电子负载与 IO管脚自动测试平台控制板连接,所述的数字电源通过继电器开关分别与数字电源、被测芯片连接。
优选地,所述的数字万用表为六位半数字万用表。
优选地,所述的电子负载为可编程电子负载。
优选地,所述的数字电源为可编程数字电源。
优选地,所述的数字万用表依次通过继电器开关K3、继电器开关K1与被测芯片的IO管脚连接,所述的数字万用表依次通过继电器开关K4、继电器开关K2 与电子负载的正极连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板分别通过串口与数字万用表、电子负载和被测芯片连接,构成微控制器管脚拉电流测试装置。
优选地,所述的数字万用表依次通过继电器开关K3、继电器开关K1与被测芯片的IO管脚连接,所述的数字万用表依次通过继电器开关K4、继电器开关K2 与电子负载的负极连接,所述的数字电源的正极与电子负载的正极连接,所述的 IO管脚自动测试平台控制板分别通过串口与数字万用表、电子负载和被测芯片连接,构成微控制器管脚灌电流测试装置。
优选地,所述的数字万用表依次通过继电器开关K5、继电器开关K1与被测芯片的IO管脚输出接口连接,所述的电子负载正极依次通过继电器开关K2、继电器开关K7与被测芯片的IO管脚输入接口连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板分别通过串口与数字万用表、数字电源和被测芯片连接,构成微控制器管脚输入电平特性测试装置。
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