[实用新型]一种扩散后硅片电压检测装置

说明书

本实用新型提供了一种扩散后硅片电压检测装置，其特征在于，包括四探针方阻测试仪，探头卡槽、表笔、弹簧顶针、万用表、铜板底座和导线，所述探头卡槽为双探头卡槽，其左侧卡槽固定安装表笔，右侧卡槽固定安装四探针方阻测试仪，所述表笔与四探针方阻测试仪为同一水平高度；所述表笔顶端笔针下端接触硅片，所述表笔另一端用所述导线连接并插入到所述万用表“+”号插孔中；所述四探针方阻测试仪的探头接触硅片，硅片放置在水平的铜板底座上，所述铜板底座一端用导线连接并插入到所述万用表“‑”号插孔中，把所述万用表调到“2V”电压档，正常测试硅片方块电阻与硅片的扩散后电压差值，判断其是否扩散，整个装置结构简单，操作方便，测量精确。

技术领域

本实用新型涉及太阳能电池生产技术领域，特别涉及一种扩散后硅片电压检测装置。

背景技术

目前，随着太阳能电池片工艺技术的日趋成熟，高效太阳能电池工艺技术发展迅速，扩散为电池工艺技术的核心，高效电池工艺均在探索如何进一步降低扩散后硅片表面“死层”厚度，以获取更优的电池转化效率。而降低硅片扩散后表面磷硅玻璃浓度，就是一种可有效降低扩散后硅片表面“死层”厚度的可行性方法，但导致扩散后硅片扩散面与非扩散面区别不明显，容易把未扩散在制硅片流到下游工序导致批量低效片产生。本实用新型在四探针测试方块电阻的基础上，对四探针方阻测试仪进行改造，可同时用所述万用表测试其硅片扩散后电池电压，在制硅片用万用表测试有电压则说明是已扩散，电压为“0”则是未扩散，检测硅片电压目的是用以区分在制硅片有无扩散。避免在制未扩散电池片流到下一工序，导致批量低效电池片产生。

实用新型内容

为了克服现有技术中无法判断硅片有无扩散的缺陷，本实用新型提供一种扩散后硅片电压检测装置。

为了实现上述目的，本实用新型提供以下技术方案：

一种扩散后硅片电压检测装置，其特征在于，包括四探针方阻测试仪，探头卡槽、表笔、弹簧顶针、万用表、铜板底座和导线，所述探头卡槽为双探头卡槽，其左侧卡槽固定安装表笔，右侧卡槽固定安装四探针方阻测试仪，所述表笔与四探针方阻测试仪为同一水平高度；所述表笔顶端笔针下端接触硅片，所述表笔另一端用所述导线连接并插入到所述万用表“+”号插孔中；所述四探针方阻测试仪的探头接触硅片，硅片放置在水平的铜板底座上，所述铜板底座一端用导线连接并插入到所述万用表“-”号插孔中，把所述万用表调到“2V”电压档，正常测试硅片方块电阻与硅片的扩散后电压差值，判断其是否扩散。

进一步的，所述所述探头卡槽，材质为金属合金，主要用于定位安装四探针测试探头和所述表笔，把两者固定在同一水平位置。

进一步的，所述表笔顶端笔针为弹簧顶针，在测试硅片方块电阻的过程中，四探针方阻测试仪的四探针下压的同时，所述表笔同时下压，所述弹簧顶针与硅片表面接触，测试其电压差值。

进一步的，所述弹簧顶针，材质为纯铜，安装在所述表笔笔头位置，主要起缓冲作用，避免所述表笔在下压过程中没有缓冲导致测试硅片碎裂。

进一步的，所述铜板底座，为正方形纯铜铜板，长度为20 x 20cm，厚度为1cm。

进一步的，所述导线，为纯铜内芯，主要用于连接所述表笔和所述万用表，以及所述铜板底座和所述万用表。

本实用新型所带来的有益效果是：将四探针方阻测试仪、表笔、万用表与铜板底座行程一条完成的回路，在铜板底座上放置待测试硅片，可同时测试硅片方块电阻与硅片电池电压，当万用表测试有电压时说明硅片已扩散，电压为“0”则是未扩散，可快速区分在制硅片有无扩散，避免未扩散电池片流到下一工序，导致批量低效电池片产生；整个装置结构简单，操作方便，测量精确。

附图说明

图1是本实用新型整体结构图。

图2是本实用新型探头卡槽的前后对比示意图。