[实用新型]测试治具

权利要求书

1.一种测试治具，其特征在于，包括插座和多个限位框，所述插座设置有多根双头针，每个所述限位框均能与所述插座可拆卸连接，每个所述限位框均设置有用于安装芯片的安装腔，所述安装腔的配置使得至少部分所述双头针可选择性地与所述芯片的至少部分引脚一一对应且电性接触。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，多个所述限位框的安装腔的尺寸各不相同，以安装不同规格的所述芯片，至少部分所述双头针与不同规格的所述芯片各自的所有引脚一一对应且电性接触。

3.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，多个所述限位框的安装腔的尺寸相同，以安装相同规格的所述芯片，多个所述限位框的安装腔相对于各自所在的所述限位框的边缘的位置不同，当相同规格的所述芯片安装于不同的所述安装腔内时，所有所述双头针与所述芯片的不同部分的引脚一一对应且电性接触。

4.根据权利要求1－3任意一项所述的测试治具，其特征在于，所述安装腔贯穿所述限位框。

5.根据权利要求1－3任意一项所述的测试治具，其特征在于，所述限位框对应所述安装腔的部位设置有隔板，所述隔板上设置有多个通孔，当所述芯片安装于与所述插座连接的限位框的安装腔内时，至少部分所述双头针分别穿过多个所述通孔后与所述芯片的至少部分引脚一一对应且电性接触。

6.根据权利要求1－3任意一项所述的测试治具，其特征在于，多个所述限位框的边缘形状和尺寸相同。

7.根据权利要求1－3任意一项所述的测试治具，其特征在于，所述插座上设置有第一卡接结构，所述限位框设置有用于与所述第一卡接结构配合的第二卡接结构，所述第一卡接结构为卡柱和卡孔中的一个，所述第二卡接结构为所述卡柱和所述卡孔中的另一个。

8.根据权利要求1－3任意一项所述的测试治具，其特征在于，所述限位框设置有与所述安装腔连通的装拆槽，所述装拆槽用于方便所述芯片的安装和拆下。

9.根据权利要求1－3任意一项所述的测试治具，其特征在于，所述插座包括底座和转动连接于所述底座上的顶盖，多根所述双头针设置于所述底座，所述限位框能与所述底座可拆卸连接，当所述限位框可拆卸连接于所述底座时，所述顶盖能通过转动压紧所述限位框。

10.根据权利要求9所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具包括多个厚度不同的压板，多个所述压板与多个所述限位框一一对应，每个所述压板均能与所述顶盖可拆卸连接，当所述顶盖压紧所述限位框且可拆卸连接有与所述限位框对应的压板时，所述压板压紧所述限位框的安装腔内的芯片。