[实用新型]测试治具

说明书

一种测试治具，属于芯片测试领域，包括插座和多个限位框，插座设置有多根双头针，每个限位框均能与插座可拆卸连接，每个限位框均设置有用于安装芯片的安装腔，安装腔的配置使得至少部分双头针可选择性地与芯片的至少部分引脚一一对应且电性接触。本测试治具具有应用范围广的特点，可以有效降低芯片测试的成本。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种测试治具。

背景技术

对于通信设备厂来说，产品在客户端异常的原因中，有一半属于硬件问题，而在硬件问题中，芯片故障是主要问题。对芯片进行故障分析，找出原因并改善，是提升产品硬件质量最关键的一环。IV测试(即电流电压测试)是芯片故障分析中最主要的一个环节，通过对芯片各个引脚的测试，为后续故障分析指明思路和方向。芯片在进行测试时，需要通过测试治具与自动测试设备连接。

但是，现有的测试治具应用范围窄，一种测试治具只能测试一种规格的芯片，或者少量双头针的测试治具只能测试少量引脚的芯片，导致测试成本高。

实用新型内容

本实用新型的目的包括提供一种测试治具，其具有应用范围广的特点，可以有效降低芯片测试的成本。

本实用新型的实施例是这样实现的：

一种测试治具，其包括插座和多个限位框，插座设置有多根双头针，每个限位框均能与插座可拆卸连接，每个限位框均设置有用于安装芯片的安装腔，安装腔的配置使得至少部分双头针可选择性地与芯片的至少部分引脚一一对应且电性接触。

可选地，多个限位框的安装腔的尺寸各不相同，以安装不同规格的芯片，至少部分双头针与不同规格的芯片各自的所有引脚一一对应且电性接触。

可选地，多个限位框的安装腔的尺寸相同，以安装相同规格的芯片，多个限位框的安装腔相对于各自所在的限位框的边缘的位置不同，当相同规格的芯片安装于不同的安装腔内时，所有双头针与芯片的不同部分的引脚一一对应且电性接触。

可选地，安装腔贯穿限位框。

可选地，限位框对应安装腔的部位设置有隔板，隔板上设置有多个通孔，当芯片安装于与插座连接的限位框的安装腔内时，至少部分双头针分别穿过多个通孔后与芯片的至少部分引脚一一对应且电性接触。

可选地，多个限位框的边缘形状和尺寸相同。

可选地，插座上设置有第一卡接结构，限位框设置有用于与第一卡接结构配合的第二卡接结构，第一卡接结构为卡柱和卡孔中的一个，第二卡接结构为卡柱和卡孔中的另一个。

可选地，限位框设置有与安装腔连通的装拆槽，装拆槽用于方便芯片的安装和拆下。

可选地，插座包括底座和转动连接于底座上的顶盖，多根双头针设置于底座，限位框能与底座可拆卸连接，当限位框可拆卸连接于底座时，顶盖能通过转动压紧限位框。

可选地，测试治具包括多个厚度不同的压板，多个压板与多个限位框一一对应，每个压板均能与顶盖可拆卸连接，当顶盖压紧限位框且可拆卸连接有与限位框对应的压板时，压板压紧限位框的安装腔内的芯片。

本实用新型实施例的有益效果包括：

本测试治具包括插座和多个限位框，插座设置有多根双头针，每个限位框均能与插座可拆卸连接，每个限位框均设置有用于安装芯片的安装腔，安装腔的配置使得至少部分双头针可选择性地与芯片的至少部分引脚一一对应且电性接触，从而使得本测试治具能够测试不同规格的芯片或者只用少量的双头针测试大量引脚的芯片，从而扩大了测试治具的应用范围，降低测试治具的制造成本，进而降低芯片测试的成本，弥补了现有的测试治具的缺陷。

附图说明