[实用新型]一种半导体的晶圆盒的悬挂式搬运设备有效
申请号: | 201821916039.8 | 申请日: | 2018-11-19 |
公开(公告)号: | CN208861958U | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 陈灿议 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/67;H01L21/68 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 袁礼君;阚梓瑄 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶圆盒 天车 装卸口 影像 影像撷取装置 升降 搬运设备 夹取装置 控制系统 偏移补偿 夹持部 悬挂式 撷取 半导体 下放 修正误差 一端连接 对齐 夹持 反馈 | ||
1.一种半导体的晶圆盒的悬挂式搬运设备,用于将承载有半导体的晶圆盒输送至装卸口,其特征在于,半导体的悬挂式搬运设备包括:
天车,可活动的安装于天车轨道,并能够悬停于设备装卸口上方;
夹取装置,包括升降部和夹持部,升降部的一端与天车连接,升降部能够相对于天车升降,夹持部与升降部的另一端连接,用于夹持晶圆盒;
影像撷取装置,安装于天车,当晶圆盒下放至接近装卸口时,影像撷取装置撷取包括晶圆盒和装卸口的影像,作为第一影像;当晶圆盒进一步下放至与装卸口接触且对齐的位置时,影像撷取装置撷取包括晶圆盒和装卸口的影像,作为第二影像;及
控制系统,能够通过比较第一影像与第二影像的特征,获得偏移补偿值,并将偏移补偿值反馈至天车,且在进行下一次下放晶圆盒时,先根据所述偏移补偿值进行校准。
2.如权利要求1所述的半导体的晶圆盒的悬挂式搬运设备,其特征在于,影像撷取装置的中心线与天车、夹持部、晶圆盒的中心线共线,影像撷取装置设置于夹持部的正上方。
3.如权利要求2所述的半导体的晶圆盒的悬挂式搬运设备,其特征在于,装卸口的顶面设有第一定位部,晶圆盒的底面设有第二定位部,当第一定位部与第二定位部匹配时,晶圆盒与装卸口对齐。
4.如权利要求3所述的半导体的晶圆盒的悬挂式搬运设备,其特征在于,第一定位部为凸柱,第二定位部为凹槽。
5.如权利要求1所述的半导体的晶圆盒的悬挂式搬运设备,其特征在于,影像撷取装置能够将第一影像和第二影像网格化,以形成虚拟网格,通过比较第一影像的虚拟网格与第二影像的虚拟网格,获得第一方向补偿值、第二方向补偿值及角度补偿值。
6.如权利要求5所述的半导体的晶圆盒的悬挂式搬运设备,其特征在于,天车在进行下一次下放晶圆盒时,先根据所述偏移补偿值进行校准,再继续获得第一方向补偿值、第二方向补偿值及角度补偿值并反馈给天车。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造