[实用新型]基于QFN的芯片封装结构有效

专利信息
申请号: 201821959369.5 申请日: 2018-11-27
公开(公告)号: CN208923104U 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 马磊;党鹏;杨光;彭小虎;王新刚;庞朋涛;任斌;王妙妙 申请(专利权)人: 西安航思半导体有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L23/31
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 王健
地址: 710300 陕西省西安市鄠*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 散热焊盘 芯片 分隔槽 沉槽 换热 盲孔 芯片封装结构 本实用新型 导热绝缘条 导电焊盘 围堰 填充 环氧绝缘体 封装结构 散热效果 引线连接 短路 边缘区 嵌入的 下表面 银浆层 中央区 侧壁 焊盘 减小 锡膏 银浆 分隔 概率 延伸
【权利要求书】:

1.一种基于QFN的芯片封装结构,包括位于环氧绝缘体(6)中的散热焊盘(1)、芯片(3)和导电焊盘(4),所述芯片(3)位于散热焊盘(1)上,位于散热焊盘(1)周边设有若干个导电焊盘(4),所述导电焊盘(4)和芯片(3)通过一引线(5)连接,其特征在于:所述散热焊盘(1)的中央区开有一供芯片(3)嵌入的沉槽(11),从而在散热焊盘(1)的边缘区形成一围堰部(12),所述沉槽(11)的底部和围堰部(12)与芯片(3)的下表面和侧壁之间均设置有银浆层(2),所述沉槽(11)的底部开有若干个延伸至散热焊盘(1)内的换热盲孔(13),所述换热盲孔(13)中具有银浆填充部(21);所述散热焊盘(1)远离芯片(3)的一侧开有分隔槽(14),所述分隔槽(14)宽度为0.1-0.3mm,所述分隔槽(14)将散热焊盘(1)远离芯片(3)的一侧等分分隔形成至少2块焊盘单体(15),所述分隔槽(14)中填充有导热绝缘条(141)。

2.根据权利要求1所述的基于QFN的芯片封装结构,其特征在于:所述沉槽(11)深度不大于芯片(3)厚度设置。

3.根据权利要求2所述的基于QFN的芯片封装结构,其特征在于:所述换热盲孔(13)为锥形盲孔,所述换热盲孔(13)靠近芯片(3)一端端口的孔径大于换热盲孔(13)远离芯片(3)一端端口的孔径。

4.根据权利要求3所述的基于QFN的芯片封装结构,其特征在于:所述围堰部(12)内侧上开有阶梯部(121)。

5.根据权利要求1所述的基于QFN的芯片封装结构,其特征在于:所述导热绝缘条(141)厚度小于分隔槽(14)槽深。

6.根据权利要求1所述的基于QFN的芯片封装结构,其特征在于:所述焊盘单体(15)的面积不小于0.3*0.3mm2

7.根据权利要求6所述的基于QFN的芯片封装结构,其特征在于:所述导电焊盘(4)和散热焊盘(1)的间距为0.3mm。

8.根据权利要求1所述的基于QFN的芯片封装结构,其特征在于:所述导电焊盘(4)为T型块。

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