[实用新型]快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪有效

专利信息
申请号: 201821976787.5 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN209311676U 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: 刘岩;刘虓;周子钰;马瑞达;刘子溦;郭紫涵;杜雨珂 申请(专利权)人: 成都安的光电科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/88
代理公司: 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 代理人: 张玲;代平
地址: 610041 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 标校 光学系统 异物清除 激光 本实用新型 激光瞄准 瞄准点 成像探测器 激光发射 专用的 射入
【权利要求书】:

1.一种快速标校激光瞄准点的光学系统,其特征在于,包括角反射器、分光镜、斩波器以及成像探测器,所述角反射器用于将部分激光反射入成像探测器,并在成像探测器上形成光斑,且射入成像探测器的激光的光轴与用于打击目标的激光的光轴共轴,所述成像探测器记录所述光斑的位置,并作为瞄准点;在进行标校时,斩波器打开,透过分光镜的激光全部或部分通过斩波器并射入角反射器,角反射器用于使透过分光镜的激光反射回分光镜,并经分光镜反射后,射入成像探测器,成像探测器接收经分光镜反射回来的激光并形成光斑。

2.根据权利要求1所述的快速标校激光瞄准点的光学系统,其特征在于,所述分光镜设置于发射激光的光路上,激光经分光镜反射后输出用于打击目标的出射激光;所述斩波器和所述角反射器依次设置于分光镜的一侧,并与射向分光镜的激光相对应,斩波器用于控制透射激光是/否射入角反射器,所述透射激光为透过分光镜的激光;所述角反射器用于将透射激光反射180度,并射向分光镜;所述成像探测器设置于分光镜的一侧,并与所述出射激光相对应,成像探测器用于在标校时,接收经分光镜反射的透射激光,并用于在使用时,接收目标成像光。

3.一种激光远程异物清除仪,其特征在于,包括权利要求1-2任一所述光学系统,所述光学系统设置于激光发射头。

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