[实用新型]快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪有效

专利信息
申请号: 201821976787.5 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN209311676U 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: 刘岩;刘虓;周子钰;马瑞达;刘子溦;郭紫涵;杜雨珂 申请(专利权)人: 成都安的光电科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/88
代理公司: 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 代理人: 张玲;代平
地址: 610041 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 标校 光学系统 异物清除 激光 本实用新型 激光瞄准 瞄准点 成像探测器 激光发射 专用的 射入
【说明书】:

实用新型涉及一种快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪,其中,所述光学系统可以利用射入成像探测器的部分激光标校激光发射瞄准点;本实用新型所提供的光学系统及激光远程异物清除仪,在进行瞄准点的标校时,不需要长距离的场地或专用的标校场地,而且标校的过程更简单、便捷,标校精度高,可以有效避免现有技术中的弊端。

技术领域

本实用新型涉及激光技术领域,具体涉及一种快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪。

背景技术

在使用激光对远距离目标进行指定点打击或清除的系统中,例如,激光远程异物清除仪等,需要对激光发射光轴和目标成像光轴之间的位置关系进行标校,即确定瞄准点,才能根据目标成像上的瞄准点,使发射的激光精确照射到指定的打击点上,击中目标。

为了使发射的激光精确击中指定的打击点,现有技术中常用的标校激光发射瞄准点的方法是:模拟实际工作场景,向一定距离的目标发射激光,在目标成像传感器上,记录当前激光打击点的位置,作为当前距离对应的瞄准点。如果不同距离对应的瞄准点不同,则需要重复上述动作,分别对不同距离的目标发射激光,在目标成像传感器上,分别记录当前激光打击点的位置,作为对应距离的瞄准点。

然而,现有的标校激光发射瞄准点的方法通常存在如下弊端:(1)需要根据实际场景,向一定距离的目标发射激光并在目标成像传感器上,记录打击点的位置,作为该距离对应的瞄准点。如果不同距离对应的瞄准点不同,则需要标定出不同距离对应的瞄准点。因此在实际标校操作时,不仅需要有满足距离要求的场地,而且操作麻烦、费时费力。(2)激光发射光学系统和目标成像光学系统,经历存储、运输、使用等过程,或经历震动或环境温度变化,都可能使激光发射光轴与目标成像光轴之间的相对位置关系发生变化,造成瞄准点发生偏差,甚至失效。

实用新型内容

为改善现有技术中所存在的不足,本实用新型提出了一种不需要场地,就能简单、快捷、精确标校瞄准点的光学系统结构。

本实用新型所采用的技术方案是:

一种快速标校激光瞄准点的光学系统,包括角反射器、分光镜、斩波器以及成像探测器,所述角反射器用于将部分激光反射入成像探测器,并在成像探测器上形成光斑,且射入成像探测器的激光的光轴与用于打击目标的激光的光轴共轴,所述成像探测器记录所述光斑的位置,并作为瞄准点;在进行标校时,斩波器打开,透过分光镜的激光全部或部分通过斩波器并射入角反射器,角反射器用于使透过分光镜的激光反射回分光镜,并经分光镜反射后,射入成像探测器,成像探测器接收经分光镜反射回来的激光并形成光斑。

一种优选的方案中,所述分光镜设置于发射激光的光路上,激光经分光镜反射后输出用于打击目标的出射激光;所述斩波器和所述角反射器依次设置于分光镜的一侧,并与射向分光镜的激光相对应,斩波器用于控制透射激光是/否射入角反射器,所述透射激光为透过分光镜的激光;所述角反射器用于将透射激光反射180度,并射向分光镜;所述成像探测器设置于分光镜的一侧,并与所述出射激光相对应,成像探测器用于在标校时,接收经分光镜反射的透射激光,并用于在使用时,接收目标成像光。

一种激光远程异物清除仪,包括前述光学系统,所述光学系统设置于激光发射头。

优选的,所述激光发射头还包括壳体,所述光学系统设置于所述壳体内,且分光镜设置于激光的光路上。

与现有技术相比,使用本实用新型提供的一种快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪,具有以下有益效果:

1、本光学系统,在进行瞄准点的标校时,不需要长距离的场地或专用的标校场地。

2、相比现有技术中常用的标校手段,本光学系统的标校的过程更简单、便捷。

3、本光学系统的标校精度更高,可达微弧度量级。

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