[实用新型]用于芯片推拉力测量的简易测试系统

说明书

本实用新型公开了一种用于芯片推拉力测量的简易测试系统，包括：承载台，其至少用以安置固定待测芯片；运动导向和角度调节机构，其与所述的承载台连接，并至少能够使所述承载台于多个平面方向内运动并能够调节承载台倾斜角度；推拉力测量机构，其至少用于测量待测芯片推拉力值；视觉监测对准机构，其至少用于使推拉力测量机构的探针与安置于承载台上的待测芯片对准连接；底座，所述运动导向和角度调节机构、推拉力测量机构以及视觉监测对准机构均可拆卸地安装在所述底座上。本实用新型结构简单、制作和测试成本低，使用和操作灵活、简便，能够可以实现芯片推拉力的手动测量。

技术领域

本实用新型涉及一种推拉力测量装置，特别涉及一种用于芯片推拉力测量的简易测试系统，属于激光器、探测器、LED芯片测试设备技术领域。

背景技术

在激光器、探测器、LED芯片等领域，经常会涉及测试芯片的推拉力，激光器、探测器、LED芯片通常是通过热熔、超声波焊接、胶粘及卡合等方式固定在电子装置的壳体上，为防止使用者施力不当等原因而使附加件从壳体上脱落，常常需要在附加件组装于壳体上之后对附加件与壳体的附着力作一测试，以检验附加件与电子装置在使用时是否满足应有的结合强度；上述附着力测试一般通过一推拉力测试装置完成。

实用新型内容

本实用新型的主要主要目的在于提供一种用于芯片推拉力测量的简易测试系统，使用该装置，可以实现芯片推拉力的手动测量，进而克服现有技术中的不足。

为实现前述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案包括：

本实用新型实施例还提供了一种用于芯片推拉力测量的简易测试系统，其包括：

承载台，其至少用以安置固定待测芯片；

运动导向和角度调节机构，其与所述的承载台连接，并至少能够使所述承载台于多个平面方向内运动并能够调节承载台倾斜角度；

推拉力测量机构，其至少用于测量待测芯片推拉力值；

视觉监测对准机构，其至少用于使推拉力测量机构的探针与安置于承载台上的待测芯片对准连接；

底座，所述运动导向和角度调节机构、推拉力测量机构以及视觉监测对准机构均可拆卸地安装在所述底座上。

在一些较为具体的实施方案中，所述运动导向和角度调节机构包括至少能够使所述承载台于第一方向运动的第一运动导向机构、至少能够使所述承载台于第二方向运动的第二运动导向机构、至少能够使所述承载台于第三方向运动的第三运动导向机构、至少用于调节所述承载台倾斜角度的角度调节机构，其中，所述第一方向、第二方向和第三方向相互垂直。

在一些较为具体的实施方案中，所述承载台以滚动或滑动的方式直接与所述第一运动导向机构、第二运动导向机构和第三运动导向机构中的任一者配合连接。

在一些较为具体的实施方案中，所述第一运动导向机构设置在第二运动导向机构上方，所述第三运动导向机构设置在第二运动导向机构上方，所述承载台设置在所述第三运动导向机构上方，所述第一运动导向机构、第二运动导向机构和第三运动导向机构中任意相邻的两者中的一者以滑动或滚动的方式与另一者配合连接。

在一些较为具体的实施方案中，所述第一运动导向机构、第二运动导向机构和第三运动导向机构中的任一者包括导轨或导向轴。

在一些较为具体的实施方案中，所述角度调节结构包括设置于所述承载台下方的高度可调的支撑柱。

在一些较为具体的实施方案中，所述支撑柱与所述承载台螺纹连接。

在一些较为具体的实施方案中，所述推拉力测量机构包括推拉力表以及固定座，所述推拉力表设置在固定座上，所述固定座夹设在所述底座上。

在一些较为具体的实施方案中，所述视觉监测对准机构包括摄像装置，所述摄像装置的摄像头对准待测芯片。