[实用新型]散射参数测试系统有效
申请号: | 201822058129.4 | 申请日: | 2018-12-07 |
公开(公告)号: | CN209400608U | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 李明超;苏国生 | 申请(专利权)人: | 京信通信系统(中国)有限公司;京信通信技术(广州)有限公司;京信通信系统(广州)有限公司;天津京信通信系统有限公司 |
主分类号: | G01R27/28 | 分类号: | G01R27/28;G01R31/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 冯右明 |
地址: | 510663 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 第一连接部 第二连接部 待测模块 散射参数 射频模块 一端连接 测试连接 测试模块 测试系统 传输结构 测试仪 短路件 简化生产工序 一体化集成 测试 测试电路 测试过程 生产效率 专用测试 组装焊接 第一端 工装 申请 制作 | ||
1.一种散射参数测试系统,其特征在于,包括用于分别连接待测射频模块和测试仪的测试模块;
所述测试模块包括传输结构、测试连接件和短路件;所述传输结构包括第一连接部、第二连接部以及连接在所述第一连接部和所述第二连接部之间的测试电路;
所述测试连接件的第一端连接所述第一连接部,第二端连接所述测试仪;所述短路件的一端连接所述第二连接部;所述待测射频模块的一端连接所述第一连接部,另一端连接所述测试仪。
2.根据权利要求1所述的散射参数测试系统,其特征在于,所述第一连接部和第二连接部之间的传输链路为1/4个工作频段波长的奇数倍的传输线。
3.根据权利要求1所述的散射参数测试系统,其特征在于,所述测试电路为微波衰减电路、天线单元、用于调整所述待测射频模块匹配性能的匹配电路或用于调整所述待测射频模块匹配性能的匹配传输线。
4.根据权利要求1所述的散射参数测试系统,其特征在于,所述待测射频模块包括第一待测射频单元和第二待测射频单元;所述第一待测射频单元为滤波器、射频元器件或射频电路夹具;所述第二待测射频单元为天线单元、微波衰减负载或微波吸收负载;
所述第一待测射频单元的一端连接所述第一连接部,另一端连接所述测试仪;所述第二待测射频单元连接所述第二连接部;
或
所述第一待测射频单元连接所述第二连接部;所述第二待测射频单元的一端连接所述第一连接部,另一端连接所述测试仪。
5.根据权利要求1所述的散射参数测试系统,其特征在于,所述传输结构为微带传输线结构或带状传输线结构。
6.根据权利要求5所述的散射参数测试系统,其特征在于,所述第一连接部包括第一加载导体和第一加载枝节;
所述传输结构为微带传输线结构时,所述第一加载导体的一端与所述微带传输线结构的接地层电连接,所述第一加载导体的另一端与所述第一加载枝节电连接;
所述传输结构为带状传输线结构时,所述第一加载导体的一端与所述带状传输线结构的导体线路层电连接,所述第一加载导体的另一端与所述第一加载枝节电连接。
7.根据权利要求5所述的散射参数测试系统,其特征在于,所述第二连接部包括第二加载导体和第二加载枝节;
所述传输结构为微带传输线结构时,所述第二加载导体的一端与所述微带传输线结构的接地层电连接,所述第二加载导体的另一端与所述第二加载枝节电连接;
所述传输结构为带状传输线结构时,所述第二加载导体的一端与所述带状传输线结构的导体线路层电连接,所述第二加载导体的另一端与所述第二加载枝节电连接。
8.根据权利要求1所述的散射参数测试系统,其特征在于,所述短路件为金属导体块。
9.根据权利要求1所述的散射参数测试系统,其特征在于,所述测试连接件为同轴传输线构件。
10.根据权利要求1至9任意一项所述的散射参数测试系统,其特征在于,还包括基板;
所述基板包括第一板面以及与第一板面相对的第二板面;所述第二板面用于接地;
所述测试模块设于所述第一板面上。
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