[实用新型]散射参数测试系统

说明书

本申请公开一种散射参数测试系统，包括用于分别连接待测射频模块和测试仪的测试模块；测试模块包括传输结构、测试连接件和短路件；传输结构包括第一连接部、第二连接部以及连接在第一连接部和第二连接部之间的测试电路；测试连接件的第一端连接第一连接部，第二端连接测试仪；短路件的一端连接第二连接部；待测射频模块的一端连接第一连接部，另一端连接测试仪。可方便快速的测试一体化集成产品中各个射频模块的散射参数；而无需制作及使用各个待测模块的专用测试工装，不必先单独测完各个待测模块的参数，之后将各个待测模块组装焊接在一起；可大大简化生产工序，并且测试过程简单，操作方便，进而提高生产效率。

技术领域

本实用新型涉及射频测试技术领域，特别是涉及一种散射参数测试系统。

背景技术

在传统的移动通信设备中，各个射频模块的输入输出端通常设置有射频连接器，在各个射频模块连接之前可以单独测试各自的散射参数(scattering parameters，又称为S参数)；然而，随着移动通信特别是5G通信系统的发展，通信设备中的各个射频模块逐步朝着小型化、集成化方向演进，一个典型的解决方案是，滤波器模块和天线模块一体化集成，滤波器模块和天线模块之间已不存在射频连接器；而采用传统的测试系统对上述的一体化集成产品进行散射测试，测试过程复杂，生产效率极低，难以适应产业化生产需求的。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：传统的散射测试系统，测试过程复杂，生产效率极低，难以适应产业化生产需求的。

实用新型内容

基于此，有必要针对传统的散射测试系统，测试过程复杂，生产效率极低的问题，提供一种散射参数测试系统。

为了实现上述目的，本实用新型实施例提供了一种散射参数测试系统，包括用于分别连接待测射频模块和测试仪的测试模块；

测试模块包括传输结构、测试连接件和短路件；传输结构包括第一连接部、第二连接部以及连接在第一连接部和第二连接部之间的测试电路；

测试连接件的第一端连接第一连接部，第二端连接测试仪；短路件的一端连接第二连接部；待测射频模块的一端连接第一连接部，另一端连接测试仪。

在其中一个实施例中，第一连接部和第二连接部之间的传输链路为1/4个工作频段波长的奇数倍的传输线。

在其中一个实施例中，测试电路为微波衰减电路、天线单元、用于调整待测射频模块匹配性能的匹配电路或用于调整待测射频模块匹配性能的匹配传输线。

在其中一个实施例中，待测射频模块包括第一待测射频单元和第二待测射频单元；第一待测射频单元为滤波器、射频元器件或射频电路夹具；第二待测射频单元为天线单元、微波衰减负载或微波吸收负载；

第一待测射频单元的一端连接第一连接部，另一端连接测试仪；第二待测射频单元连接第二连接部；

或

第一待测射频单元连接第二连接部；第二待测射频单元的一端连接第一连接部，另一端连接测试仪。

在其中一个实施例中，传输结构为微带传输线结构或带状传输线结构。

在其中一个实施例中，第一连接部包括第一加载导体和第一加载枝节；

传输结构为微带传输线结构时，第一加载导体的一端与微带传输线结构的接地层电连接，第一加载导体的另一端与第一加载枝节电连接；

传输结构为带状传输线结构时，第一加载导体的一端与带状传输线结构的导体线路层电连接，第一加载导体的另一端与第一加载枝节电连接。

在其中一个实施例中，第二连接部包括第二加载导体和第二加载枝节；