[实用新型]光模块的测试系统

权利要求书

1.一种光模块的测试系统，其特征在于，包括误码收发主芯片、至少两个光接口、至少两个电接口、测试板、测试仪器和单片机；所述光接口与所述误码收发主芯片连接，所述误码收发主芯片、所述测试板及所述测试仪器均与所述单片机连接；

所述误码收发主芯片，用于接收本地参考时钟提供的所需数据速率及误码码型，且对所述所需数据速率进行倍频处理得到特定数据速率，并对所述误码码型进行设置得到特定码型；将所述特定数据速率搭配所述特定码型得到波信号，且将波信号经所述光接口输出至第一待测件，或经所述电接口输出至第二待测件；

所述光接口，用于插接第一待测件，其中，所述第一待测件为SFP/SFP+光发射模块；

所述电接口，用于连接射频线缆，进而连接所述测试板；

所述测试板，用于插拔第二待测件；其中，所述第二待测件为非SFP/SFP+光发射模块或光发射器件；

所述测试仪器，用于测试所述第一待测件或第二待测件的光发射性能；

所述单片机，用于给所述本地参考时钟、所述误码收发主芯片及所述测试仪器提供控制指令；

所述单片机，还用于记录光发射性能测试的数据。

2.如权利要求1所述的光模块的测试系统，其特征在于，所述误码收发主芯片包括伪随机码型发生器、控制单元、倍频电路；多个所述光接口均与所述伪随机码型发生器连接，所述伪随机码型发生器及单片机均与所述控制单元连接，所述本地参考时钟通过倍频电路与所述控制单元连接；

所述倍频电路，用于接收到本地参考时钟提供的所需数据速率及误码码型后进行倍频处理得到特定数据速率并发送给控制单元处理；

所述控制单元，用于接收到特定数据速率后发送至所述伪随机码型发生器；

所述伪随机码型发生器，用于将所述特定数据速率进行处理得到特定码型，并将所述特定码型搭配所述特定码型得到波信号并发送至所述光接口或所述电接口。

3.如权利要求2所述的光模块的测试系统，其特征在于，在测试所述第一待测件的光发射性能时，所述第一待测件插接在所述光接口上；所述第一待测件通过光接口接收波信号后发射第一光信号，所述第一光信号通过光纤输出至所述测试仪器，以测试第一待测件的光发射性能。

4.如权利要求2所述的光模块的测试系统，其特征在于，在测试所述第二待测件的光发射性能时，所述第二待测件插接在所述测试板上，且所述测试板通过射频线缆插接在所述电接口上；所述第二待测件通过电接口接收所述波信号后发射第二光信号，所述第二光信号通过光纤接入所述测试仪器，以测试所述第二待测件的光发射性能。

5.如权利要求2所述的光模块的测试系统，其特征在于，所述误码收发主芯片还包括时钟恢复单元和伪随机码检测单元，所述光接口或电接口均与所述时钟恢复单元连接，所述时钟恢复单元与所述伪随机码检测单元连接，且所述伪随机码检测单元与所述控制单元连接；

所述时钟恢复单元，用于对接收到的电信号进行波形重整后得到重整波形，并将所述重整波形发送至所述伪随机码检测单元；

所述伪随机码检测单元，用于对所述重整波形进行误码的检测及识别得到检测结果，并将检测结果发送至所述控制单元；

所述单片机，还用于记录所述检测结果；

所述光接口，还用于插接第三待测件，其中，所述第三待测件为SFP/SFP+光接收模块；

所述测试板，还用于插拔第四待测件，其中，所述第四待测件为非SFP/SFP+光接收模块或光接收器件。

6.如权利要求5所述的光模块的测试系统，其特征在于，在测试所述第三待测件的光接收性能时，所述第三待测件插接于所述光接口上；

与所述光接口连接的所述第三待测件将第一光源信号转换为第一电信号，所述第一电信号通过光接口发送至所述时钟恢复单元。

7.如权利要求6所述的光模块的测试系统，其特征在于，在测试所述第四待测件的光接收性能时，所述第四待测件插接于所述测试板上，且所述测试板通过射频线缆插接于所述电接口上；

与所述测试板连接的所述第四待测件将第二光源信号转换为第二电信号，所述第二电信号通过所述测试板及电接口发送至所述时钟恢复单元。