[实用新型]光模块的测试系统

说明书

本实用新型公开了一种光模块的测试系统，其中，光模块的测试系统包括误码收发主芯片、至少两个光接口、至少两个电接口、测试板、测试仪器和单片机；所述光接口与所述误码收发主芯片连接，所述误码收发主芯片、所述测试板及所述测试仪器均与所述单片机连接。本实用新型通过设置多个光接口及多个电接口，光接口用于插接SFP/SFP+光发射模块，电接口用于连接射频线缆，进而连接测试板；通过单片机给本地参考时钟、误码收发主芯片及测试仪器提供控制指令，实现同时对多只光模块/光器件的光发射性能或光接收性能的测试，实现多元化的测试方案，有效简化测试机台的设备配置，节约成本。

技术领域

本实用新型涉及光模块技术领域，尤其涉及光模块的测试系统。

背景技术

光模块是一种用于光电转换的电子器件，光模块的发送端把接收到的电信号转换成光信号，通过光纤传输至光模块的接收端，接收端再把光信号转换成电信号输出。

现有技术的光模块测试装置，无法支持多元化的测试方案，如要进行多通道的测试，则需要多台设备，增加了测试机台搭建的复杂度及相应的成本。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提出一种光模块的测试系统，旨在实现多元化测试方案，简化测试机台的设备配置，进而节约成本。

为实现上述目的，本实用新型提供一种光模块的测试系统，包括误码收发主芯片、至少两个光接口、至少两个电接口、测试板、测试仪器和单片机；所述光接口与所述误码收发主芯片连接，所述误码收发主芯片、所述测试板及所述测试仪器均与所述单片机连接；

所述误码收发主芯片，用于接收本地参考时钟提供的所需数据速率及误码码型，且对所述所需数据速率进行倍频处理得到特定数据速率，并对所述误码码型进行设置得到特定码型；将所述特定数据速率搭配所述特定码型得到波信号，且将波信号经所述光接口输出至第一待测件，或经所述电接口输出至第二待测件；

所述光接口，用于插接第一待测件，其中，所述第一待测件为SFP/SFP+光发射模块；

所述电接口，用于连接射频线缆，进而连接所述测试板；

所述测试板，用于插拔第二待测件；其中，所述第二待测件为非SFP/SFP+光发射模块或光发射器件；

所述测试仪器，用于测试所述第一待测件或第二待测件的光发射性能；

所述单片机，用于给所述本地参考时钟、所述误码收发主芯片及所述测试仪器提供控制指令；

所述单片机，还用于记录光发射性能测试的数据。

可选地，所述误码收发主芯片包括伪随机码型发生器、控制单元、倍频电路；多个所述光接口均与所述伪随机码型发生器连接，所述伪随机码型发生器及单片机均与所述控制单元连接，所述本地参考时钟通过倍频电路与所述控制单元连接；

所述倍频电路，用于接收到本地参考时钟提供的所需数据速率及误码码型后进行倍频处理得到特定数据速率并发送给控制单元处理；

所述控制单元，用于接收到特定数据速率后发送至所述伪随机码型发生器；

所述伪随机码型发生器，用于将所述特定数据速率进行处理得到特定码型，并将所述特定码型搭配所述特定码型得到波信号并发送至所述光接口或所述电接口。

可选地，在测试所述第一待测件的光发射性能时，所述第一待测件插接在所述光接口上；所述第一待测件通过光接口接收波信号后发射第一光信号，所述第一光信号通过光纤输出至所述测试仪器，以测试第一待测件的光发射性能。