[实用新型]CSP薄板坯结晶器检修校准仪器有效
申请号: | 201822115799.5 | 申请日: | 2018-12-17 |
公开(公告)号: | CN209246975U | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 刘忠军;张志克;黄桂生;张学军;蔡继宗 | 申请(专利权)人: | 邯郸钢铁集团有限责任公司;河钢股份有限公司邯郸分公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/24 |
代理公司: | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人: | 曹淑敏 |
地址: | 056015 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基准块 支架 标准仪 测量触头 薄板坯结晶器 检修 本实用新型 上下布置 校准仪器 测量 测量定位器 结晶器技术 冶金行业 测量仪 结晶器 微调板 | ||
1.一种CSP薄板坯结晶器检修校准仪器,其特征在于:包含标准仪支架(1)、测量微调板(4)、基准块A(5)、基准块B(6)、基准块C(7)、测量触头A(8)、测量触头B(9)、测量触头C(10)、测量仪(13)、测量定位器(15)和微调板支架(19),标准仪支架(1)的一侧为A面,与A面相对的另一侧为B面,测量基座(3)固定在标准仪支架(1)顶端的B面上,测量仪(13)固定在测量基座(3)上,测量基座(3)上设有微调板支架(19),微调板支架(19)上设有与测量仪(13)相配合的测量微调板(4),标准仪支架(1)的A面上设有上下布置的基准块A(5)、基准块B(6)和基准块C(7),测量触头A(8)、测量触头B(9)和测量触头C(10)分别固定在上下布置的基准块A(5)、基准块B(6)和基准块C(7)上,靠近标准仪支架(1)的顶端的标准仪支架(1)的A面和B面上分别设有一个测量定位器(15)。
2.根据权利要求1所述的CSP薄板坯结晶器检修校准仪器,其特征在于:所述测量定位器(15)包含底座(15-2)和固定在底座(15-2)上的定位管(15-1),底座(15-2)的下面为平面,定位管(15-1)通过定位螺丝(30)固定在标准仪支架(1)上。
3.根据权利要求1所述的CSP薄板坯结晶器检修校准仪器,其特征在于:所述基准块A(5)、基准块B(6)和基准块C(7)分别通过紧固螺丝(16)固定在标准仪支架(1)的A面。
4.根据权利要求1所述的CSP薄板坯结晶器检修校准仪器,其特征在于:所述测量微调板(4)上设有微调螺丝(11)。
5.根据权利要求1所述的CSP薄板坯结晶器检修校准仪器,其特征在于:所述标准仪支架(1)上还设有手柄(14),所述手柄(14)固定在靠近标准仪支架(1)的顶端上。
6.根据权利要求1所述的CSP薄板坯结晶器检修校准仪器,其特征在于:所述测量触头A(8)、测量触头B(9)和测量触头C(10)在同一平面内。
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