[实用新型]磁瓦外观缺陷检测系统

说明书

本实用新型公开了磁瓦外观缺陷检测系统,包括检测台、第一输送带、顶板、第二输送带和第三输送带，所述检测台底端的四个拐角处均安装有支腿，所述检测台的顶端安装有第一安装架，且第一安装架上安装有第一输送带，所述第一输送带的一侧安装有出料检测传感器，且出料检测传感器一侧的第一输送带上安装有破损检测光学相机，所述第一输送带一端的检测台的顶端安装有第一不良品收集盒，所述第一输送带一侧的检测台的顶端安装有第二安装架，且第二安装架上安装有第二输送带。本实用新型通过安装有伺服电机和转盘，使得便于带动第二缺陷检测相机旋转，从而便于通过第二缺陷检测相机对磁瓦的各个侧面进行缺陷检测，使用更加方便。

技术领域

本实用新型涉及磁瓦生产技术领域，具体为磁瓦外观缺陷检测系统。

背景技术

磁瓦是永磁体中的一种主要用在永磁电机上的瓦状磁铁，在磨床磨加工和超声波清洗烘干机加工后的磁瓦产品需要人工从清洗烘干机的出口取出，暂存到产品中转托；然后再搬运到检分车间通过人工检分，将有外观缺陷的产品剔除，完好产品装箱，这样就需要一个人全天候不间断地在磨床出口处收捡产品，磁瓦外观缺陷在前后端R角、内外弧面和各个侧面发生，而且产品需要经过一次中转才能检测装箱，因此会浪费人工和产品中转区，且效率低下，工人劳动强度高，而现有的磁瓦外观缺陷检测系统虽然能够良好的检验磁瓦的外观，但由于安装的检测相机过多，使得检测流程较为复杂，同时检测后磁瓦的收纳盒没有控制装置，需要人工看守，避免收纳过多导致磁瓦溢出工作台，因而使用较为不便。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供磁瓦外观缺陷检测系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：磁瓦外观缺陷检测系统，包括检测台、第一输送带、顶板、第二输送带和第三输送带，所述检测台底端的四个拐角处均安装有支腿，所述检测台的顶端安装有第一安装架，且第一安装架上安装有第一输送带，所述第一输送带的一侧安装有出料检测传感器，且出料检测传感器一侧的第一输送带上安装有破损检测光学相机，所述第一输送带一端的检测台的顶端安装有第一不良品收集盒，所述第一输送带一侧的检测台的顶端安装有第二安装架，且第二安装架上安装有第二输送带，所述第二输送带的一侧安装有第一位置检测传感器，且第一位置检测传感器一端的第二输送带上安装有第二位置检测传感器，所述第一位置检测传感器一侧的第二输送带上安装有第一缺陷检测相机，所述第二输送带远离第一输送带一端的检测台的顶端安装有第二不良品收集盒，所述第二输送带远离第一不良品收集盒一侧的检测台的顶端安装有第三安装架，且第三安装架上安装有第三输送带，所述第三输送带的一侧安装有第三位置检测传感器，所述第三输送带远离第二输送带一端的检测台的顶端安装有良品收集盒，所述第三输送带远离第二不良品收集盒一侧的检测台的顶端安装有第三不良品收集盒，所述检测台顶端的两侧均安装有支架，且支架的顶端安装有顶板，所述良品收集盒一侧的支架上安装有控制箱，且控制箱的内部安装有PLC控制器，所述第一输送带上方的顶板的底端安装有第一机械爪，所述第二输送带上方的顶板的底端安装有驱动箱，且驱动箱的内部安装有伺服电机，所述伺服电机的输出轴竖向穿过驱动箱的的底端安装有转盘，且转盘底端的一侧安装有电动缸，所述电动缸的底端安装有支杆，且支杆的一端安装有第二缺陷检测相机，所述驱动箱远离第一机械爪一侧的顶板的底端安装有第二机械爪，所述第三输送带上方的顶板的底端安装有电磁滑轨，且电磁滑轨的底端安装有电磁滑块，所述电磁滑块的底端安装有第三缺陷检测相机，所述电磁滑轨远离第二机械爪一侧的顶板的底端安装有第三机械爪，所述出料检测传感器、第一位置检测传感器、第二位置检测传感器和第三位置检测传感器的输出端均通过导线与PLC控制器的输入端电性连接，且PLC控制器的输出端通过导线分别与破损检测光学相机、第一缺陷检测相机、第二缺陷检测相机和第三缺陷检测相机的输入端电性连接。

优选的，所述第一输送带、第二输送带和第三输送带均关于检测台的中轴线并排设置。

优选的，所述第一机械爪、第二机械爪和第三机械爪分别位于第一输送带、第二输送带和第三输送带的正上方。