[实用新型]一种用于测试存储卡的测试板及测试设备有效
| 申请号： | 201822208602.2 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN209418157U | 公开（公告）日： | 2019-09-20 |
| 发明（设计）人： | 胡宏辉;梁广庆;李小强 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试电路 存储卡 电路板 测试板 测试设备 申请 存储卡测试 测试 测试信号 耦接 | ||
1.一种测试板，用于测试存储卡，其特征在于，包括：
电路板；以及
多个测试电路，设置于所述电路板上且彼此相互独立，每个所述测试电路均与一个待测存储卡耦接，以向所述待测存储卡提供测试信号。
2.如权利要求1中所述的测试板，其特征在于，每个所述测试电路均包括用于产生所述测试信号的控制器。
3.如权利要求2中所述的测试板，其特征在于，所述多个测试电路内的所述控制器交替设置于所述电路板的相对两侧。
4.如权利要求2中所述的测试板，其特征在于，每个所述测试电路还包括第一变压电路，输入端与电源接口耦接、输出端与所述控制器耦接，以将外部的电压转换为第一电压提供给所述控制器。
5.如权利要求2中所述的测试板，其特征在于，每个所述测试电路还包括第二变压电路、第三变压电路和选择电路，其中所述第二变压电路和所述第三变压电路的输入端与电源接口耦接、输出端通过所述选择电路与所述待测存储卡耦接，以将外部的电压分别转换为第二电压和第三电压，并将所述第二电压或所述第三电压通过所述选择电路提供给所述待测存储卡。
6.如权利要求4中所述的测试板，其特征在于，所述第一电压为1.2V。
7.如权利要求5中所述的测试板，其特征在于，所述第二电压为1.8V，所述第三电压为3.3V。
8.如权利要求6或7中所述的测试板，其特征在于，所述待测存储卡采用eMMC协议；
每个所述测试电路还包括eMMC IO引脚，设置于所述电路板的一端，与所述待测存储卡耦接。
9.如权利要求2中所述的测试板，其特征在于，每个所述测试电路还包括发光电路，与所述控制器耦接。
10.如权利要求9中所述的测试板，其特征在于，所述多个测试电路内的发光电路并排设置并设置于所述电路板的一端，且与所述控制器相对设置于所述电路板的两端。
11.一种测试设备，其特征在于，包括至少一个如权利要求1-10中至少一项所述的测试板，与多个待测存储卡连接，以同时对所述多个待测存储卡进行测试。
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