[实用新型]一种用于测试存储卡的测试板及测试设备

说明书

本申请提供一种测试板，用于测试存储卡。该测试板包括电路板和多个测试电路，其中多个测试电路设置于电路板上且彼此相互独立，每个测试电路均与一个待测存储卡耦接，以向待测存储卡提供测试信号。本申请还提供了一种测试设备。本申请中，通过电路板上设置多个测试电路，提高存储卡测试效率。

技术领域

本申请的所公开实施例涉及存储技术领域，且更具体而言，涉及一种用于测试存储卡的测试板及测试设备。

背景技术

存储卡是用于智能设备上的独立存储介质，例如，智能手机、数码相机、便携式电脑等，一般为卡片的形态。存储卡在插入到智能设备上投入使用前，需要对存储卡进行兼容性测试，例如，信息识别、读取、热插拔等。

目前的测试方法为人工测试，并且，一次只能单个存储卡，测试效率低。

申请内容

根据本申请的实施例，本申请提出一种用于测试存储卡的测试板和测试设备，以提高存储卡的测试效率。

根据本申请的第一方面，提供一种测试板，用于测试存储卡。该测试板包括：电路板；以及多个测试电路，设置于电路板上且彼此相互独立，每个测试电路均与一个待测存储卡耦接，以向待测存储卡提供测试信号。

其中，每个测试电路均包括用于产生测试信号的控制器。

其中，多个测试电路内的控制器交替设置于电路板的相对两侧。

其中，每个测试电路还包括第一变压电路，输入端与电源接口耦接、输出端与控制器耦接，以将外部的电压转换为第一电压提供给控制器。

其中，每个测试电路还包括第二变压电路、第三变压电路和选择电路，其中第二变压电路和第三变压电路的输入端与电源接口耦接、输出端通过选择电路与待测存储卡耦接，以将外部的电压分别转换为第二电压和第三电压，并将第二电压或第三电压通过选择电路提供给待测存储卡。

其中，第一电压为1.2V，第二电压为1.8V，第三电压为3.3V。

其中，待测存储卡采用eMMC协议；每个测试电路还包括eMMC IO引脚，设置于电路板的一端，与待测存储卡耦接。

其中，每个测试电路还包括发光电路，与控制器耦接。

其中，多个测试电路内的发光电路并排设置并设置于电路板的一端，且与控制器相对设置于电路板的两端。

根据本申请的第二方面，提供一种测试设备。该测试设备包括至少一个测试板，与多个待测存储卡连接，以同时对多个待测存储卡进行测试，其中测试板为上述第一方面中的测试板。

本申请的有益效果有：通过电路板上设置多个测试电路，一次测试多个存储卡，提高测试效率。

附图说明

图1是本申请第一实施例的测试板的示意图。

图2是本申请实施例的测试板上的测试电路的电路示意图。

图3是本申请第二实施例的测试板的俯视图。

图4是本申请第二实施例的测试板的正视图。

具体实施方式

本说明书及权利要求书通篇中所用的某些用语指代特定部件。如所属领域的技术人员可以理解的是，电子设备制造商可利用不同名称来指代同一个部件。本文并非以名称来区分部件，而是以功能来区分部件。在以下说明书及权利要求书中，用语“包括”是开放式的限定词语，因此其应被解释为意指“包括但不限于…”。另外，用语“耦合”旨在意指间接电耦接或直接电耦接。因此，当一个装置耦合到另一装置时，则这种耦接可以是直接电耦接或通过其他装置及耦接部而实现的间接电耦接。