[实用新型]一种用于电子元器件的低温检测房

说明书

针对由于检测时间远远低于冷却时间，采用传统方式，低温浪涌装置、低温测试装置等检测装置得不到有效利用的问题，本实用新型提供了一种用于电子元器件的低温检测房，其可以大幅度地降低电子元器件于检测装置中的冷却时间，低温浪涌装置、低温测试装置等检测装置可以得到有效利用。其包括检测装置，其特征在于：其还包括预冷区，所述预冷区用于对待检测的电子元器件进行预冷；测试区，所述测试区安装有所述检测装置；操作区，所述操作区包含或者连接所述预冷区和所述测试区。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件检测技术领域，具体为一种用于电子元器件的低温检测房。

背景技术

电子元器件例如钽电容、MLCC等在生产完成后需要对其进行高低温浪涌试验、高低温四参数测试等检测来判断其是否合格，而在进行浪涌、四参数测试尤其是低温浪涌、低温四参数测试时，现在一般通过将电子元器件装入夹具并置入低温浪涌箱、低温测试箱等静态检测装置中进行检测，或者将电子元器件放入装载盒中置入如申请号为CN201721084196.2的一种电容自动测试装置等动态检测装置中进行检测，而装载盒或者夹具有阻热性，在将其置入检测装置后需要等待夹具内部的电子元器件温度降低到检测温度才能进行检测，例如检测温度为-55摄氏度，此时就需要在检测装置中放置1-2小时才能使电子元器件外表面及内部均降低到-55摄氏度，而检测时间往往很短只需要几分钟即可完成，所以检测时间远远低于冷却时间，低温浪涌装置、低温测试装置等检测装置得不到有效利用。

实用新型内容

针对由于检测时间远远低于冷却时间，采用传统方式，低温浪涌装置、低温测试装置等检测装置得不到有效利用的问题，本实用新型提供了一种用于电子元器件的低温检测房，其可以大幅度地降低电子元器件于检测装置中的冷却时间，低温浪涌装置、低温测试装置等检测装置可以得到有效利用。

其技术方案是这样的：一种用于电子元器件的低温检测房，其包括检测装置，其特征在于：其还包括预冷区，所述预冷区用于对待检测的电子元器件进行预冷；测试区，所述测试区安装有所述检测装置；操作区，所述操作区包含或者连接所述预冷区和所述测试区。

其进一步特征在于：

所述操作区安装有抽湿机或者制冷机，所述操作区入口处设有干燥区，所述干燥区内设有抽湿机，所述干燥区内还设有干燥装置，所述干燥装置用于干燥待检测电子元器件、放置待检测电子元器件的装载盒或者放置待检测电子元器件的夹具；

所述操作区还包含回温区或者连接回温区，用于对检测完成后的电子元器件、放置检测完成后的电子元器件的装载盒或者放置检测完成后的电子元器件的夹具升温处理；

所述检测装置包括检测部分和控制部分，所述检测部分位于所述测试区内，所述控制部分位于常温常湿环境内。

采用了这样的检测房后，待检测的电子元器件装入夹具或者装载盒后，先置入预冷区中进行预冷，使电子元器件外表面和内部均达到检测温度，再置入检测装置中进行检测，这样，一批次的待检测的电子元器件减少了在检测装置中冷却的时间，从而减少了一批次电子元器件在检测装置中的时间，从而最大限度地发挥昂贵的低温测试机的工作效率。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

具体实施方式

如图1所示的一种用于电子元器件的低温检测房，其包括检测装置1-1，其还包括预冷区2，预冷区2用于对待检测的电子元器件进行预冷，预冷区2内安装有预冷箱，其内部温度为检测温度；测试区1，测试区1安装有检测装置1-1，测试区1内安装有压缩机，使测试区温度为检测温度；操作区3，操作区3包含或者连接预冷区2和测试区1。