[实用新型]基于激光三维轮廓测量仪的双层胶路检测装置有效
申请号: | 201822275066.8 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN209131603U | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 姚文政;杨远红;白双星;李彧斌;彭阳 | 申请(专利权)人: | 光子(深圳)精密科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人: | 彭西洋;谢亮 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区大浪*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维轮廓测量 激光 电控底座 移动模块 双层胶 工业控制计算机 本实用新型 路检测装置 待检测物 旋转单元 三维轮廓测量仪 电性连接 检测方向 控制电路 自动识别 组件电性 组件设置 待测物 偏移量 治具 相交 测量 检测 | ||
1.一种基于激光三维轮廓测量仪的双层胶路检测装置,其特征在于,包括:激光三维轮廓测量组件、电控底座、移动模块和工业控制计算机;所述电控底座作为整机的基座,内设有若干控制电路;所述移动模块设置在所述电控底座上,并与电控底座内的若干控制电路电性连接;所述工业控制计算机分别与电控底座和激光三维轮廓测量组件电性连接;所述移动模块包括R轴旋转单元,所述R轴旋转单元上设有治具,用于放置待检测物;所述激光三维轮廓测量组件设置在所述移动模块上,包括两个检测方向相交的激光三维轮廓测量仪,用于检测所述待检测物;所述工业控制计算机通过所述移动模块控制两个激光三维轮廓测量仪检测待测物,并在检测过程中控制R轴旋转单元带动治具上的待检测物旋转,实现待测物的多点位检测。
2.根据权利要求1所述的基于激光三维轮廓测量仪的双层胶路检测装置,其特征在于,所述移动模块还包括:Y轴移动单元、X轴移动单元和Z轴移动单元;所述Y轴移动单元包括:水平设置的Y轴滑轨、Y轴滑块和设置在电控底座内的Y轴驱动组件,所述Y轴滑轨设置在电控底座的上方,所述Y轴滑轨的两端分别向电控底座的前后方向延伸,Y轴滑轨上设有Y轴滑块,所述Y轴驱动组件带动Y轴滑块沿所述Y轴滑轨前后移动;所述R轴旋转单元设置在所述Y轴滑块上;所述X轴移动单元设置在所述Y轴移动单元的上方;所述Z轴移动单元设置在所述X轴移动单元上,并随X轴移动单元的长度方向在所述电控底座上左右移动,所述激光三维轮廓测量组件设置在所述Z轴移动单元上。
3.根据权利要求2所述的基于激光三维轮廓测量仪的双层胶路检测装置,其特征在于,所述X轴移动单元包括:一根水平放置的X轴横杆、两根竖直放置的X轴竖杆、X轴滑块和X轴驱动组件,所述两根X轴竖杆分别放置在所述电控底座的左右两侧,所述X轴横杆的两端分别连接在X轴竖杆的顶端,所述X轴横杆延长度方向设有X轴滑轨,所述X轴滑块设置在X轴滑轨上,所述X轴驱动组件设置在X轴横杆上,并带动X轴滑块沿X轴滑轨延伸的方向左右移动。
4.根据权利要求2所述的基于激光三维轮廓测量仪的双层胶路检测装置,其特征在于,所述Z轴移动单元包括:一根竖直放置的Z轴竖杆、Z轴滑块和Z轴驱动组件,所述Z轴竖杆设置在X轴滑块上,并随X轴滑块沿X轴滑轨延伸的方向左右移动,所述Z轴竖杆延长度方向设有Z轴滑轨,所述Z轴滑块设置在Z轴滑轨上,所述Z轴驱动组件设置在Z轴横杆上,并带动Z轴滑块沿Z轴滑轨延伸的方向上下移动。
5.根据权利要求2所述的基于激光三维轮廓测量仪的双层胶路检测装置,其特征在于,所述R轴旋转单元包括:减速电机和工作台;所述减速电机设置在所述Y轴滑块上,所述工作台设置在所述减速电机输出轴上方,所述治具设置在所述工作台上。
6.根据权利要求1所述的基于激光三维轮廓测量仪的双层胶路检测装置,其特征在于,所述激光三维轮廓测量组件还包括安装架,所述安装架为折角状,且含有两个自由端,所述两个激光三维轮廓测量仪分别设置在所述安装架的两个自由端的内侧。
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