[发明专利]低功率有源负载

说明书

一种有源负载电路，所述有源负载电路包括具有第一节点至第四节点的二极管桥，其中，电压缓冲器与所述第一节点连接，拉电流镜与所述第二节点连接，所述第三节点被配置用于到受测装置(DUT)的连接，并且灌电流镜与所述第四节点连接。第一电流镜与所述拉电流镜连接，并且第二电流镜与所述灌电流镜连接。第一差分对与所述第一电流镜连接并且包括与所述DUT连接的输入端和与所述输入电压连接的第二输入端。第二差分对与所述第二电流镜连接并且包括与所述DUT连接的第一输入端和与所述输入电压连接的第二输入端。

技术领域

本发明涉及使用有源负载的半导体自动化测试设备，并且更具体地涉及一种在用于自动化测试设备和ASIC验证的高度集成的片上系统引脚电子IC上使用的低功率有源负载电路，其中，在不会不利地影响有源负载的DC/AC性能的情况下，经改进的电路降低了标准有源负载电路中的功率耗散。

背景技术

在诸如由马萨诸塞州诺伍德的Analog Devices,Inc.的ADATE320和加利福尼亚州圣何塞的Maxim Integrated的MAX9979这样的产品上发现了有源负载。还在加利福尼亚州圣地亚哥的Elevate Semiconductor的ISL55161和ISL55163是发现了有源负载。

可以在图1中看到典型的现有技术的有源负载电路。此电路工作得相当好，并且它通常与驱动器、比较器、和PPMU绑定在一起，以创建全引脚电子通道。然而，随着引脚计数上升，承载(hosting)引脚电子装置的板的密度上升。为了成功地给这些密集的引脚电子板供电并使其冷却，有必要显著地使功率最小化。

发明内容

因此，本发明在不会不利地影响有源负载的DC/AC性能的情况下降低了标准有源负载电路中的功率耗散。利用较低的功率耗散，实现较高密度的ATE系统变得可能。除了密度之外，提高了电压要求，从而使得更有必要减小引脚电子装置中的总电流。

根据本发明的第一方面，提供了一种用于对受测装置(DUT)执行测试的有源负载电路，包括：二极管桥，所述二极管桥具有第一节点、第二节点、第三节点和第四节点，所述第一节点与所述第三节点相对并且所述第二节点与所述第四节点相对，其中，经配置以缓冲输入电压的电压缓冲器与所述第一节点连接，拉电流镜(source current mirror)与所述第二节点连接，并且灌电流镜(sink current mirror)与所述第四节点连接。接下来，第一电流镜与所述拉电流镜连接，并且第二电流镜与所述灌电流镜连接。第一差分对包括第一输入端和第二输入端并且与所述第一电流镜连接。所述第一差分对被从第一恒流源馈送第一偏置电流。第二差分对包括第三输入端和第四输入端并且与所述第二电流镜连接。所述第二差分对被从第二恒流源馈送第二偏置电流。

在实施例中，所述第三节点被配置用于到所述DUT的连接。

在本发明的实施例中，所述第一输入端被配置用于与所述输入电压的连接，并且所述第二输入端被配置用于与所述DUT的连接。

在本发明的一个实施例中，所述第三输入端被配置用于与所述输入电压的连接，并且所述第四输入端被配置用于与所述DUT的连接。

在实施例中，所述第一恒流源是恒流电路，并且所述第二恒流源是恒流电路。

连接的链可以被插置在所述拉电流镜、所述第一电流镜、和所述第一差分对之间，并且可以采取从由以下各项构成的组中选择的配置：串联-串联连接、串联-并联连接、并联-串联连接、和并联-并联连接。

此外，在实施例中，所述灌电流镜、所述第二电流镜、和所述第二差分对之间的连接的链可以采取从由以下各项构成的组中选择的配置：串联-串联连接、串联-并联连接、并联-串联连接、和并联-并联连接。

所述电压缓冲器可以是单位增益缓冲器。

在实施例中，所述第一电流镜和所述第一差分对各自包括晶体管对，并且所述第一电流镜和所述第一差分对的晶体管对各自包括MOSFET型晶体管。