[发明专利]用于对样品进行显微检查的显微镜和方法

说明书

本发明涉及一种用于利用显微镜对样品进行显微检查的方法，显微镜包括物镜和图像传感器，图像传感器用于转换由物镜成像到图像传感器上的图像。显微镜的视场能通过选择图像传感器的区段来改变。在方法的步骤中，利用显微镜拍摄样品的至少一个部分区域的初始图像(01)，为此在显微镜上选择第一视场。分析初始图像(01)，以便获知至少两个有区别的对部分区域成像的视场，其中，通过对部分区域成像的视场中的每个视场对初始图像(01)的部分区域成像。针对所获知的对部分区域成像的视场中的每个视场，拍摄样品的部分区域的图像(03)。本发明还涉及一种用于对样品进行显微检查的显微镜。

技术领域

本发明首先涉及一种用于利用显微镜对样品进行显微检查的方法，该显微镜包括物镜和图像传感器，该图像传感器用于转换由物镜直接或间接成像到该图像传感器上的图像。本发明还涉及一种用于对样品进行显微检查的显微镜。

背景技术

DE 197 33 193A1示出了一种具有自适应光学系统的显微镜。在该显微镜中，在物镜与图布斯透镜之间布置进行发射的波前调制器。该显微镜可以被用于共聚焦显微检查，用于激光辅助显微检查，用于常规的显微检查或者用于分析显微检查。

从US 7,345,816 B2公知一种光学显微镜，该光学显微镜包括具有如下镜，该镜具有可控制的可改变的进行反射的表面。通过改变该镜的表面，可以从不同的焦点位置拍摄图像。

US 7,269,344 B2示出了一种具有成像光学系统的光学设备，该光学系统具有可变形的镜和数字缩放功能。经此，在图像锐度高时应该能改变电子放大。

制造商SD Optics公司的产品“3D显微镜”用于快速地产生宏观和显微图像，该宏观和显微图像具有扩展景深(EDoF-Extended Depth of Field)。被称作MALS模块的镜阵列透镜系统用于实现EDoF功能。MALS表示镜阵列透镜系统(Mirror Array Lens System)。该系统的细节例如在WO 2005/119331 A1或者WO 2007/134264 A2中公开。该产品尤其包括LED环形照明、同轴照明、透射照明、机械台、具有5倍、10倍、20倍和50倍放大的物镜和快速自动聚焦。该聚焦可以以直至10kHz的频率被改变。

DE 698 38 297T2示出了一种用于通过计算机控制的显微镜检测并且重新建立放大的样品图像的方法。在拍摄样品的第一组数字化图像时，控制物品台运动和图像大小，使得可以产生第一组连续的图像片，以便能够实现样品的放大的总视图。样品的总视图被显示，以便用户可以交互地选择令他感兴趣的区域。相对应地，该区域以更高的光学分辨率来扫描并且产生第二组数字化图像。

从US 2006/0140462 A1公知一种用于共焦拍摄的方法，其中在令人感兴趣的区域局部有针对性地对CMOS图像传感器进行读取。

EP 1 918 751A1教导了一种显微镜，该显微镜应该能够以不同的焦点位置来实现对三维图像和高分辨率图像的拍摄。

DE 10 2013 208 415A1示出了一种用于3D高分辨率定位显微检查的方法，该3D高分辨率定位显微检查应该使样品沿深度方向并且与之横向地高分辨率地成像。在样品中，荧光发射器被重复激发以发射荧光辐射。利用两个探测器，从两个不同的焦平面拍摄样品的以同一荧光状态的同时的单个对象对为形式的单图像，两个不同的焦平面沿深度方向间隔开间距。

发明内容

基于现有技术，本发明的任务在于：可以灵活地并且快速地进行对样品的显微检查。

所提到的任务通过按照随附的权利要求1的方法以及通过按照随附的并列权利要求13的显微镜来解决。