[发明专利]用于检查资产的方法和装置有效
申请号: | 201880014486.0 | 申请日: | 2018-02-08 |
公开(公告)号: | CN110352346B | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 克拉克·亚历山大·本多尔 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/89 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张丰豪 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检查 资产 方法 装置 | ||
1.一种用于检查资产的装置(101),所述装置(101)包括:
探头(102),所述探头包括:
具有第一视场的第一图像传感器(171)和具有第二视场的第二图像传感器(172),所述第一图像传感器和所述第二图像传感器被配置成获得立体图像,
一个或多个检查模式光发射器(160),所述一个或多个检查模式光发射器被配置成在检查模式期间提供所述资产的照明,以及
纹理图案投射系统(168),所述纹理图案投射系统用于将纹理图案(166)投射于所述资产上,所述纹理图案投射系统(168)包括
一个或多个测量模式光发射器(165),所述一个或多个测量模式光发射器被配置成在测量模式期间提供所述资产的照明,
纹理图案(166),所述纹理图案定位成靠近所述一个或多个测量模式光发射器(165),以及
纹理图案投射 光学系统(167),所述纹理图案投射 光学系统用于将所述纹理图案(166)投射到所述资产上,其中所述纹理图案(166)位于所述一个或多个测量模式光发射器(165)与所述纹理图案投射 光学系统(167)之间;以及
探头电子器件,其包括一个或多个处理器以及存储器且构造成:
接收在检查模式中获取的第一立体图像,第一立体图像包括由第一图像传感器获取的第一视场图像和由第二图像传感器获得第二视场图像;确定所述第一立体图像中所述资产是否处于预定触发位置;如果确定所述资产处于所述预定触发位置,则保存所述第一立体图像;接收在测量模式中获取的第二立体图像,第二立体图像包括由第一图像传感器和第二图像传感器获取的相应图像;保存所述第二立体图像;
其中,确定所述图像中所述资产是否处于预定触发位置的步骤包括:识别所述第一视场图像中的所述预定触发位置;识别所述第二视场图像中的第一匹配的触发位置;确定所述预定触发位置与所述第一匹配的触发位置之间的差异值;确定所述差异值与前一图像的差异值之间的变化是否超过预定阈值;如果所述变化未超过所述预定阈值,那么接收另外的第一立体图像;以及如果所述变化超过所述预定阈值,那么保存接收到的第一立体图像。
2.如权利要求1所述的装置(101),所述装置还包括用于所述第一图像传感器(171)的第一光学系统(121),所述第一光学系统(121)包括第一棱镜(123)。
3.如权利要求1所述的装置(101),其中所述纹理图案投射系统(168)位于所述一个或多个检查模式光发射器(160)与所述第一图像传感器( 171 ) 和所述第二图像传感器(172)之间。
4.如权利要求1所述的装置(101),其中所述纹理图案(166)是沉积在位于所述一个或多个测量模式光发射器(165)的顶部上的玻璃窗上的不透明图案。
5.如权利要求4所述的装置(101),其中所述纹理图案(166)是点的半随机布置。
6.如权利要求1所述的装置(101),其中所述一个或多个检查模式光发射器(160)是白色发光二极管(161、162)。
7.如权利要求1所述的装置(101),其中所述一个或多个测量模式光发射器(165)是单色发光二极管。
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